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公开(公告)号：CN119044540A
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202411254819.0
申请日：2024-09-09
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G01Q60/00
Abstract: 本发明属于微顶推技术领域，且公开了一种用于显微镜材料表征的微顶推装置及其使用方法。包括物品底座，所述物品底座上安装有测量悬臂，所述测量悬臂远离物品底座的一侧安装有测量探针，所述物品底座上转动连接有水平控制螺纹轴，所述水平控制螺纹轴上螺纹连接有夹紧支架，所述夹紧支架上滑动连接有对称分布的上夹紧块，所述上夹紧块下侧安装有待测样品，所述物品底座下侧固定连接有垂直转动架；本发明通过设置水平调控齿和待测样品等结构的配合，进而带动夹紧支架滑动，通过上夹紧块和下夹紧块在夹紧拉簧的拉力作用下对待测样品进行夹紧，同时通过水平调控齿转动带动待测样品沿水平方向滑动，达到待测样品可自由水平滑动的效果。
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