公开(公告)号：CN117594166A

公开(公告)日：2024-02-23

申请号：CN202311612794.2

申请日：2023-11-29

Applicant: 武汉大学

Inventor： 梅江洲 ,  马刚 ,  曹万达 ,  周伟 ,  常晓林

IPC: G16C60/00 ,  G06F30/25 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明公开了一种颗粒材料强弱接触体系的动态划分方法与装置，属于颗粒物质力学研究领域。包括以下步骤：获取颗粒材料剪切过程中每个剪切步颗粒材料的颗粒信息；根据每个剪切步颗粒材料的颗粒信息构建对应的每个剪切步的颗粒接触网络；改变接触力临界值，识别颗粒接触网络中不同接触力临界值下接触团簇与接触环的数目，根据接触团簇与接触环的数目，构建演化曲线，其中接触团簇为局部节点通过连边形成的最大连通集合，接触环为局部节点形成的首尾相连的环状结构；根据演化曲线，确定每个剪切步对应的强弱接触体系划分阈值；根据每个剪切步对应的强弱接触体系划分阈值，获得整体强弱接触体系的动态划分阈值。

公开(公告)号：CN119354742A

公开(公告)日：2025-01-24

申请号：CN202411416818.1

申请日：2024-10-11

Applicant: 武汉大学

Inventor： 马刚 ,  曹万达 ,  梅江洲 ,  王頔 ,  周伟

IPC: G01N3/24 ,  G01N3/02 ,  G01N3/06 ,  G01B11/16 ,  G01L1/24

Abstract: 本发明公开基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法，试验平台上从左至右依次设有偏振光源、起偏镜、双轴加载装置、LED光源、检偏镜和所述图像采集系统，所述光学平台上还设有控制系统，所述控制系统与所述双轴加载装置电连接。本颗粒材料细观力学试验平台基于光学测量技术，通过可调节的双轴加载装置的运动，实现二维密实颗粒体系的剪切，通过旋转检偏镜，可以在偏振光场和无偏光场之间切换，以获取不同光场下的试验图像，并结合光弹性技术和数字图像相关技术进行接触力和动力学分析；本颗粒材料细观力学试验平台通过高精度、高采集频率的图像采集技术，不需接触，可以直观和同步地获取颗粒材料的接触力和动力学信息。