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公开(公告)号:CN108760244B
公开(公告)日:2019-11-26
申请号:CN201810344109.5
申请日:2018-04-17
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光性能监测技术领域,提供了一种高分辨率光性能监测装置和方法。其中装置中光电探测器阵列5固定在可实现高精度旋转的伺服电机6上,伺服电机6的转轴与光电探测器阵列5垂直,并和光栅3分光后中心波长的光轴重合,伺服电机6绕自身转轴旋转和/或平移,能使光电探测器阵列相对于光栅3分光方向发生转动和/或平移。本发明在不显著增加尺寸和成本的前提下,利用伺服电机带动光电探测器阵列完成预设的旋转/平移动作,从而采集并存储对应某一成像的一系列的象元分布结果,并通过预设在数据处理电路中的计算程序,实现高分辨率的光性能监测。
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公开(公告)号:CN108760244A
公开(公告)日:2018-11-06
申请号:CN201810344109.5
申请日:2018-04-17
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光性能监测技术领域,提供了一种高分辨率光性能监测装置和方法。其中装置中光电探测器阵列5固定在可实现高精度旋转的伺服电机6上,伺服电机6的转轴与光电探测器阵列5垂直,并和光栅3分光后中心波长的光轴重合,伺服电机6绕自身转轴旋转和/或平移,能使光电探测器阵列相对于光栅3分光方向发生转动和/或平移。本发明在不显著增加尺寸和成本的前提下,利用伺服电机带动光电探测器阵列完成预设的旋转/平移动作,从而采集并存储对应某一成像的一系列的象元分布结果,并通过预设在数据处理电路中的计算程序,实现高分辨率的光性能监测。
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公开(公告)号:CN106405745A
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:CN201611145133.3
申请日:2016-12-13
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
CPC classification number: G02B6/3518 , G02B6/266
Abstract: 本发明公开一种衰减可调的宽带波长可调谐滤波器,包括:光输入端口、准直透镜、衍射光栅、二维可调的MEMS反射镜及光输出端口。二维可调的MEMS反射镜可独立的绕两个正交轴转动,通过控制MEMS反射镜绕一个轴转动以改变从光输出端口输出的反射光波长,实现波长调谐;通过控制MEMS反射镜绕另一个正交轴转动改变反射光与输出端口的耦合,实现衰减可调。此外,通过一定的光学设计,譬如在光输入端口、光输出端口的光纤端面,设置光纤扩束装置,其作用是增加光纤端面处的光斑尺寸,最终增加滤波器的光学通带,可以使得本发明装置具有更大的光学带宽。本发明结构紧凑,光学元件较少,成本低,易于生产。
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公开(公告)号:CN114725768A
公开(公告)日:2022-07-08
申请号:CN202210287770.3
申请日:2022-03-22
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: H01S3/137 , H04B10/572
Abstract: 本发明提供一种波长锁定器及波长锁定装置,该波长锁定器包括:分光器,用于将输入光信号分为反射光信号和第一透射光信号;第一探测器,用于接收并探测所述反射光信号的光功率;F‑P标准具,内部具有中空的空气隙,用于接收并传输所述第一透射光信号;介质组件,至少部分可活动地设置在所述空气隙内,以改变所述第一透射光信号经所述空气隙的光程;第二探测器,用于接收并探测所述F‑P标准具输出的第二透射光信号的光功率。
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公开(公告)号:CN112039585A
公开(公告)日:2020-12-04
申请号:CN202010850160.0
申请日:2020-08-21
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: H04B10/079
Abstract: 本公开是关于一种光信号监测设备及光信号监测方法。该光信号监测设备包括分光组件,将输入复合光信号分为多个分光信号;第一滤波组件用于过滤得到分光信号中第一波长带宽的第一光信号;第一监测组件用于监测第一光信号得到第一监测结果;第二滤波组件用于过滤得到分光信号中第二波长带宽的第二光信号;第二监测组件用于监测第二光信号得到第二监测结果,第一波长带宽大于第二波长带宽。通过第一滤波组件和第一监测组件组合以及第二滤波组件和第二监测组件组合分别对分光信号针对不同波长带宽进行滤波处理,分别获取对应波长带宽的光信号,从而在不更换或增加监测设备的情况下,可实现对同一复合光信号中不同波长带宽的光信号进行分离并实时监测。
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