公开(公告)号：CN114994491A

公开(公告)日：2022-09-02

申请号：CN202210670836.7

申请日：2022-06-15

Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司

Inventor： 刘文俊 ,  高倩 ,  郭路 ,  王文刚 ,  闵玉岚 ,  梁凉 ,  吴晓平 ,  张晋军 ,  江兵 ,  何小龙

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/66

Abstract: 本发明涉及一种多通道PD测试方法和系统。其方法部分主要包括：设置若干个光测试接口位与若干个待测PD一一对应，并设置若干个开关口与若干个光测试接口位一一对应；依次接通每个开关口，以对每个待测PD进行测试，基于待测PD是否通过测试来标记其中测试正常的光测试接口位以及测试不正常的光测试接口位；将通过测试的待测PD复用到测试不正常的光测试接口位，并参加下一轮测试，以通过下一轮测试的结果确定之前测试不正常的光测试接口位是否存在问题。本发明可以解决测试位测试失误以及轻易弃用失常测试位的问题。