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公开(公告)号：CN107664645A
公开(公告)日：2018-02-06
申请号：CN201710497343.7
申请日：2017-06-26
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 松山晃久
Abstract: 本发明提供一种照明单元、缺陷检查装置及照明方法，即使检查对象物是存在光泽不均的物品，也可以适当进行色彩缺陷或凹凸缺陷的检查。照明单元包括第1照明部、第2照明部及第3照明部。第1照明部从第1方向发出照射至安置在检查位置上的检查对象物的照明光。第2照明部从第2方向发出照射至安置在检查位置上的检查对象物的照明光。第3照明部从第3方向发出照射至安置在检查位置上的检查对象物的照明光。第1方向、第2方向及第3方向是各不相同的方向。第2照明部或第3照明部中的一者发出与第1照明部颜色相同的照明光。第1方向是如下的方向，即，使由第1照明部照射，并经检查对象物反射的正反射光的光轴与相机的光轴相吻合。
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公开(公告)号：CN114556045B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202080073157.0
申请日：2020-03-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/00
Abstract: 一种装置中的位置测定方法，该装置具有拍摄部和检测拍摄部的位置的位置检测部，该装置使用拍摄测定点时的位置检测部的检测值对测定点在特定坐标系中的位置坐标进行测定，该位置测定方法更准确地校正位置检测部的检测值。通过装置取得二维地配置有指标部(22)的校正板(20)中的指标部(22)在特定坐标系中的位置坐标作为实测值，取得将预先由其他装置取得的指标部(22)相对于校正板(20)的基准的位置坐标变换为特定坐标系中的位置坐标而得到的真值与实测值的差分作为校正值，使用校正值对位置检测部(8、9、10)的检测值进行校正，拍摄部(3)按照规定的路径对测定对象(3)中的多个测定点(P)进行拍摄，由此测定多个测定点(P)的位置坐标，与所述路径相关联地取得校正值。
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公开(公告)号：CN114556045A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202080073157.0
申请日：2020-03-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/00
Abstract: 一种装置中的位置测定方法，该装置具有拍摄部和检测拍摄部的位置的位置检测部，该装置使用拍摄测定点时的位置检测部的检测值对测定点在特定坐标系中的位置坐标进行测定，该位置测定方法更准确地校正位置检测部的检测值。通过装置取得二维地配置有指标部(22)的校正板(20)中的指标部(22)在特定坐标系中的位置坐标作为实测值，取得将预先由其他装置取得的指标部(22)相对于校正板(20)的基准的位置坐标变换为特定坐标系中的位置坐标而得到的真值与实测值的差分作为校正值，使用校正值对位置检测部(8、9、10)的检测值进行校正，拍摄部(3)按照规定的路径对测定对象(3)中的多个测定点(P)进行拍摄，由此测定多个测定点(P)的位置坐标，与所述路径相关联地取得校正值。
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公开(公告)号：CN107664645B
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN201710497343.7
申请日：2017-06-26
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 松山晃久
Abstract: 本发明提供一种照明单元、缺陷检查装置及照明方法，即使检查对象物是存在光泽不均的物品，也可以适当进行色彩缺陷或凹凸缺陷的检查。照明单元包括第1照明部、第2照明部及第3照明部。第1照明部从第1方向发出照射至安置在检查位置上的检查对象物的照明光。第2照明部从第2方向发出照射至安置在检查位置上的检查对象物的照明光。第3照明部从第3方向发出照射至安置在检查位置上的检查对象物的照明光。第1方向、第2方向及第3方向是各不相同的方向。第2照明部或第3照明部中的一者发出与第1照明部颜色相同的照明光。第1方向是如下的方向，即，使由第1照明部照射，并经检查对象物反射的正反射光的光轴与相机的光轴相吻合。
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