公开(公告)号：CN100513991C

公开(公告)日：2009-07-15

申请号：CN200710136491.2

申请日：2007-07-12

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 井上登纪子 ,  饭田雄介 ,  松永达也 ,  大庭仁志

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01B11/25 ,  G06F3/0482 ,  G06F3/04845 ,  G06T7/521

Abstract: 在位移传感器中简化计测处理时的设定作业，该设定处理是，基于与沿着拍摄得到的线状光束的方向相对的高度分布上的多个局部区域或者特征点，而执行的计测处理。将拍摄图像显示在显示部上，通过输入部输入确定指示时，将显示在显示部的拍摄图像作为设定对象图像而执行图像示教，作为计测处理，显示包含有基准位置的计测处理的候补即计测项目，并接受选择而进行设定，并且接受作为一个计测对象区域的切取区域的指定，基于所设定的计测处理以及基准位置的信息，在计测对象区域中，自动设定由用于计测的局部区域或者特征点构成的测定点。

公开(公告)号：CN101105392A

公开(公告)日：2008-01-16

申请号：CN200710136491.2

申请日：2007-07-12

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 井上登纪子 ,  饭田雄介 ,  松永达也 ,  大庭仁志

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01B11/25 ,  G06F3/0482 ,  G06F3/04845 ,  G06T7/521

Abstract: 在位移传感器中简化计测处理时的设定作业，该设定处理是，基于与沿着拍摄得到的线状光束的方向相对的高度分布上的多个局部区域或者特征点，而执行的计测处理。将拍摄图像显示在显示部上，通过输入部输入确定指示时，将显示在显示部的拍摄图像作为设定对象图像而执行图像示教，作为计测处理，显示包含有基准位置的计测处理的候补即计测项目，并接受选择而进行设定，并且接受作为一个计测对象区域的切取区域的指定，基于所设定的计测处理以及基准位置的信息，在计测对象区域中，自动设定由用于计测的局部区域或者特征点构成的测定点。