公开(公告)号：CN103487747B

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201310462371.7

申请日：2013-09-30

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  高俊强

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种符合边界扫描标准的扫描子链型测试结构，包括矢量配置模块、响应聚合模块，矢量配置模块将测试信号重新配置成多条并行的边界扫描子链与响应聚合模块连接，矢量配置模块的各条数据输出端与各边界扫描子链的数据输入端连接，各边界扫描子链的数据输出端与响应聚合模块的数据输入端连接，响应聚合模块的输出端输出的测试响应与边界扫描测试控制器的TDI端口连接。本发明同时公布了符合边界扫描标准的扫描子链型测试方法，以及扫描子链型测试结构及测试方法在诊断被测电路板故障中的应用。本发明既能满足标准又能满足扫描子链测试结构的需要，减少了边界扫描测试移位过程中的位通过率，进而降低了边界扫描测试的功耗。

公开(公告)号：CN103487747A

公开(公告)日：2014-01-01

申请号：CN201310462371.7

申请日：2013-09-30

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  高俊强

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种符合边界扫描标准的扫描子链型测试结构，包括矢量配置模块、响应聚合模块，矢量配置模块将测试信号重新配置成多条并行的边界扫描子链与响应聚合模块连接，矢量配置模块的各条数据输出端与各边界扫描子链的数据输入端连接，各边界扫描子链的数据输出端与响应聚合模块的数据输入端连接，响应聚合模块的输出端输出的测试响应与边界扫描测试控制器的TDI端口连接。本发明同时公布了符合边界扫描标准的扫描子链型测试方法，以及扫描子链型测试结构及测试方法在诊断被测电路板故障中的应用。本发明既能满足标准又能满足扫描子链测试结构的需要，减少了边界扫描测试移位过程中的位通过率，进而降低了边界扫描测试的功耗。