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公开(公告)号：CN114919316A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210709631.5
申请日：2022-06-22
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: B43M99/00
Abstract: 本发明公开了一种可吸附式笔筒。包括主笔筒、副笔筒、前端小黑板、后端橡胶吸盘和下端半圆柱形储物盒，所述主笔筒上端开口，下端封闭，可放置笔；主笔筒后侧是副笔筒，上端开口，下端封闭，可放置画图工具；主笔筒前端有一个小黑板，可以用马克笔书写每日计划；笔筒下端是一个半圆形储物盒，可放置橡皮、小刀等小物品。不同类型的物品可以分开放置，取用方便。副笔筒后端有四个橡胶吸盘，可以将笔筒随意吸附在办公位的隔板上，节省桌面空间，营造整洁的工作环境。
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公开(公告)号：CN117077777A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311076633.6
申请日：2023-08-25
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明属于测量仪器选择领域及计算机辅助公差设计(CAT)技术领域，具体涉及一种基于Ontology的测量仪器智能优选方法，如附图1。具体包括以下步骤：(1)确定测量仪器智能优选的本体应用领域；(2)构建基于本体的测量仪器智能优选知识库；(3)结合模糊变换理论和本体知识库的关键术语，定义类与类之间的关系，限制关系的属性；(4)提取与测量仪器相关的智能优选信息，建立测量仪器智能优选的实例化本体模型；(5)利用工具protégé的Jess推理机与SWRL规则结合，对测量仪器智能优选的本体模型进行推理并输出结果。本发明将本体理论引入到测量仪器的智能优选中，构建基于本体对的测量仪器智能优选的推理知识框架，根据显性领域知识推理隐含知识，拓展测量仪器选择知识库。本发明能够提供测量仪器智能优选领域的一致性知识描述框架，使得计算机能够根据测量仪器要求的性能影响因素，自动的选择最优的测量仪器，为测量仪器选择的智能化提供了一种可行的方法。
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公开(公告)号：CN117077538A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311118779.2
申请日：2023-09-01
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/27 , B22F10/85 , B33Y50/02 , G06F18/10 , G06F18/214 , G06F18/2413 , G06N3/006 , G06F113/10
Abstract: 本发明公开了一种金属增材制造零件表面粗糙度预测方法，这个方法包括两个步骤：首先，通过设计DED金属打印机制作不同参数的试样并测量试样表面粗糙度，其中主要参数包括激光束功率、材料供给速率、激光头行进速度，建立原始数据集并训练预测模型；其次，将输入参数输入预先训练好的表面粗糙度预测模型；最后，输出DED零件表面粗糙度的预测数据。为工程实际生产中提供可参考的表面粗糙度值，提升生产效率，减少材料浪费。
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公开(公告)号：CN119578193A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202311141153.3
申请日：2023-09-06
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/25 , G06F30/27 , G06F18/214 , G06F18/2413 , G06N3/006 , G06N20/00 , G06F113/10
Abstract: 本发明公开了一种基于改进k近邻算法WAAM零件表面粗糙度预测方法，这个方法包括两个步骤：首先，通过设计WAAM打印机打印不同参数的试样并测量试样表面粗糙度，其中主要参数包括焊接速度、重叠比、进线速度，建立原始数据集并训练改进k近邻预测模型；其次，将输入参数输入预先训练好的改进k近邻表面粗糙度预测模型；最后，输出WAAM零件表面粗糙度的预测数据。为工程实际生产中提供可参考的表面粗糙度值，提升生产效率，减少材料浪费。
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公开(公告)号：CN117216895A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311119892.2
申请日：2023-08-31
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，首先进行装配体几何功能分析，获取几何功能需求对应的方向位置公差。然后基于分析装配连接特征对方向位置公差的影响，根据装配体建立整体坐标系和局部坐标系。在整体坐标系和局部坐标系上，分析接触位移变动对方向位置公差产生影响的位置变动量。最后，通过位置变动量确定控制参数自由度。本申请在基于装配体的装配连接特征构建的整体坐标系和局部坐标系上，通过分析接触位移变动对装配体几何功能的影响，从而找出能够产生影响的位移变动，进而确定装配体几何功能公差的控制参数自由度，有助于优选装配特征要素的公差类型。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117077319A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311101043.4
申请日：2023-08-29
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/17
Abstract: 本发明公开了一种基于控制参数自由度的装配公差类型筛选方法，首先构建典型公差带自由度与预设的映射关系表之间的关系，解析得到实际装配体几何功能公差对应的实际控制参数自由度，其中，映射关系表表征装配体的典型几何功能公差类型与控制参数自由度之间的映射关系。然后，确定实际装配体几何功能公差的公差带自由度，并基于公差带自由度与实际控制参数自由度之间的矢量大小关系，从多个预设公差类型中筛选出优选公差类型。本申请根据分析装配体的几何功能需求获得影响几何功能指标值的控制参数自由度，基于自由度对装配体的公差类型进行筛选，实现装配体的公差类型筛选方案的优化，能够筛选得到更加适合的公差类型，节省大量人力资源。
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公开(公告)号：CN117034131A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310505155.X
申请日：2023-05-08
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F18/2413 , B29C64/386 , B33Y50/00 , G06N3/006
Abstract: 本发明公开了一种基于APSO‑KNN的FDM零件光洁度预测方法，获取输入数据，将FDM待印刷件的主要打印参数包括喷嘴直径、层厚、轮廓数、挤出量、打印速度、喷头温度和构建方向作为训练的输入数据；将输入数据输入预先训练好的APSO‑KNN表面光洁度预测模型；输出FDM印刷件表面光洁度的预测数据。将自适应粒子群算法（APSO）引入K近邻算法（KNN）中的距离公式为每个输入变量因子生成随机权重，调整距离公式计算偏差，提高FDM印刷件表面光洁度预测精度，为工程实际生产中提供可参考的表面光洁度值，提升生产效率，减少材料浪费。
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公开(公告)号：CN114947409A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210840190.2
申请日：2022-07-18
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: A47B65/00
Abstract: 本发明属于学习用品领域，特别涉及一种可节省桌面空间的书立结构。该书立结构，包括可拆卸书箱和倾斜底座，其特征是：倾斜底座的形状为直角三棱柱，内中空，可放置文具等，棱柱斜面将书箱以一定角度倾斜托起，防止书本因竖直摆放而造成取出困难；所述书箱为可拆卸结构，书箱上端面固定位置有四个通孔，下断面的相应位置有四个凸柱，可使书箱间进行相互配合，防止滑落。本书立结构在避免书本因横着摆放而占据桌面大量空间的同时，又避免了书本因竖直摆放而造成的取出困难，底座的中空部分也可以放置日常所用文具，降低笔筒的使用，进一步节省桌面空间。
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公开(公告)号：CN117034586A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310944254.8
申请日：2023-07-31
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明属于几何误差检验和计算机应用领域，具体涉及一种基于本体的箱体孔圆柱度测量认证操作的自动生成方法。通过以下步骤实现，步骤1：建立箱体孔圆柱度测量认证元本体模型；步骤2：建立操作参数选取规则库；步骤3：从CAD图纸中获取箱体孔规范信息和几何尺寸信息，构建实例化本体；步骤4：调用规则库，借助推理引擎实现箱体孔圆柱度测量认证操作智能推理。本发明针对箱体孔圆柱度测量认证操作参数过度依赖人工经验确定，使得测量认证方法多样化，造成测量结果误差大、一致性差、可对比性弱等问题，提出一种基于本体的箱体孔圆柱度测量认证操作的自动生成方法。所提方法能减少人工干预，确定测量认证方法，减小测量结果误差，可比性强。
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公开(公告)号：CN115139532A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210785854.X
申请日：2022-07-06
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: B29C64/386 , B29C64/393 , B33Y50/00 , B33Y50/02
Abstract: 本发明提供了一种自动选择SLA零件的最佳打印方向的方法，这个方法包括两个步骤：首先，应用现有的基于层次聚类的方法，自动生成选择性激光熔融零件的备选打印方向；然后，运用多目标决策方法从备选打印方向中选出最优打印方向，其中考虑了支撑体积、体积误差、表面粗糙度、打印时间和打印成本。本方法利用层次聚类算法和多目标决策方法，自动选择SLA零件的最佳打印方向的方法。
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