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公开(公告)号：CN109557101A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811630476.8
申请日：2018-12-29
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供了一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置及方法，包括第一光路、第二光路、云纹面光源、半透半反透镜、工业相机及计算机，所述云纹面光源发出的云纹条纹光束沿着所述第一光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述云纹条纹光束反射至一非标高反射曲面工件表面以形成信号光，所述信号光沿着所述第二光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述信号光透射至所述工业相机上以形成检测图像，所述计算机对所述检测图像进行处理以判断出所述非标高反射曲面工件的表面是否有缺陷及缺陷的位置，以精确的检测非标高反射曲面工件表面的缺陷，且解决了在图像采集的时候容易发生眩光导致采集的图像过饱和以及检测的分辨率不可控的问题。
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公开(公告)号：CN109557101B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN201811630476.8
申请日：2018-12-29
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供了一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置及方法，包括第一光路、第二光路、云纹面光源、半透半反透镜、工业相机及计算机，所述云纹面光源发出的云纹条纹光束沿着所述第一光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述云纹条纹光束反射至一非标高反射曲面工件表面以形成信号光，所述信号光沿着所述第二光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述信号光透射至所述工业相机上以形成检测图像，所述计算机对所述检测图像进行处理以判断出所述非标高反射曲面工件的表面是否有缺陷及缺陷的位置，以精确的检测非标高反射曲面工件表面的缺陷，且解决了在图像采集的时候容易发生眩光导致采集的图像过饱和以及检测的分辨率不可控的问题。
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公开(公告)号：CN109829906A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201910095715.2
申请日：2019-01-31
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于方向场与纹理特征的工件缺陷检测与分类方法，包括先利用采集的工件样本数据建立SVM检测模型，将采集的待测工件表面图像进行预处理自动得获取工件的ROI区域，将ROI区域划分为w×w大小的待测样本图像，并按照位置坐标将待测样本图像坐标加入标签，最后用SVM检测模型对待测样本图像进行分类，得到分类结果与缺陷样本，通过标签进一步索引缺陷位置。本发明计算图像的方向场与纹理特征中对比度、能量、熵的特征向量，通过归一化进行尺度转化，从而建立SVM模型，计算的模型不仅反应了不同缺陷的特征，同时能降低环境光照对系统的影响，增加了系统的稳定性与抗干扰能力。
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公开(公告)号：CN209486002U
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201822244083.5
申请日：2018-12-29
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型提供了一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置，包括第一光路、第二光路、云纹面光源、半透半反透镜、工业相机及计算机，所述云纹面光源发出的云纹条纹光束沿着所述第一光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述云纹条纹光束反射至一非标高反射曲面工件表面以形成信号光，所述信号光沿着所述第二光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述信号光透射至所述工业相机上以形成检测图像，所述计算机对所述检测图像进行处理以判断出所述非标高反射曲面工件的表面是否有缺陷及缺陷的位置，以精确的检测非标高反射曲面工件表面的缺陷，且解决了在图像采集的时候容易发生眩光导致采集的图像过饱和以及检测的分辨率不可控的问题。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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