公开(公告)号：CN101949695A

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN201010254145.6

申请日：2010-08-14

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  湛宾洲 ,  邓仕超 ,  曹杰

IPC: G01B11/30 ,  B07C5/36

Abstract: 本发明公开了一种锚夹片工作面光电在线检测仪，其特征是：由照明光学系统、成像光学系统、图像识别系统、控制系统、机械运动与定位系统组成，照明光学系统位于锚夹片支撑的正上方，通过成像光学系统反射镜与成像光学系统连接，成像光学系统位于成像光学系统反射镜的正上方，它通过工业相机与图像识别系统连接，图像识别系统在电脑中通过程序实现，控制系统通过通信协议与图像识别系统连接，机械运动与定位系统通过直线电机与数据线同控制系统连接。本发明的优点是：分辨率和检测准确率高、抗环境干扰能力强，能自动剔除不合格品，易安装，易操作。

公开(公告)号：CN101424511B

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN200810073987.4

申请日：2008-12-16

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  张杰 ,  韩文峰 ,  邓仕超 ,  张腾飞 ,  湛宾洲

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明公开了一种IC芯片引脚共面性检测仪，它包括光学图像采集系统和自动识别软件系统，其特征是：该仪器还设置了包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电控柜的机电控制系统，光学图像采集系统为左右对称的双光路传递结构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接。这种检测仪检测速度快，合格率高，设备成本低，结构新颖，占地面积小，易安装、易操作。

公开(公告)号：CN101424511A

公开(公告)日：2009-05-06

申请号：CN200810073987.4

申请日：2008-12-16

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  张杰 ,  韩文峰 ,  邓仕超 ,  张腾飞 ,  湛宾洲

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明公开了一种IC芯片引脚共面性检测仪，它包括光学图像采集系统和自动识别软件系统，其特征是：该仪器还设置了包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电控柜的机电控制系统，光学图像采集系统为左右对称的双光路传递结构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接。这种检测仪检测速度快，合格率高，设备成本低，结构新颖，占地面积小，易安装、易操作。

公开(公告)号：CN101949695B

公开(公告)日：2012-06-06

申请号：CN201010254145.6

申请日：2010-08-14

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  湛宾洲 ,  邓仕超 ,  曹杰

IPC: G01B11/30 ,  B07C5/36

Abstract: 本发明公开了一种锚夹片工作面光电在线检测仪，其特征是：由照明光学系统、成像光学系统、图像识别系统、控制系统、机械运动与定位系统组成，照明光学系统位于锚夹片支撑的正上方，通过成像光学系统反射镜与成像光学系统连接，成像光学系统位于成像光学系统反射镜的正上方，它通过工业相机与图像识别系统连接，图像识别系统在电脑中通过程序实现，控制系统通过通信协议与图像识别系统连接，机械运动与定位系统通过直线电机与数据线同控制系统连接。本发明的优点是：分辨率和检测准确率高、抗环境干扰能力强，能自动剔除不合格品，易安装，易操作。

公开(公告)号：CN201811724U

公开(公告)日：2011-04-27

申请号：CN201020292931.0

申请日：2010-08-14

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  湛宾洲 ,  邓仕超 ,  曹杰

IPC: G01B11/30 ,  B07C5/36

Abstract: 本实用新型公开了一种锚夹片工作面光电在线检测仪，其特征是：由照明光学系统、成像光学系统、图像识别系统、控制系统、机械运动与定位系统组成，照明光学系统位于锚夹片支撑的正上方，通过成像光学系统反射镜与成像光学系统连接，成像光学系统位于成像光学系统反射镜的正上方，它通过工业相机与图像识别系统连接，图像识别系统在电脑中通过程序实现，控制系统通过通信协议与图像识别系统连接，机械运动与定位系统通过直线电机与数据线同控制系统连接。本实用新型的优点是：分辨率和检测准确率高、抗环境干扰能力强，能自动剔除不合格品，易安装，易操作。

公开(公告)号：CN201314820Y

公开(公告)日：2009-09-23

申请号：CN200820113668.7

申请日：2008-12-16

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 萧泽新 ,  张杰 ,  韩文峰 ,  邓仕超 ,  张腾飞 ,  湛宾洲

IPC: G01B11/00

Abstract: 本实用新型公开了一种IC芯片引脚共面性检测仪，它包括光学图像采集系统和自动识别软件系统，其特征是：该仪器还设置了包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电控柜的机电控制系统，光学图像采集系统为左右对称的双光路传递结构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接。这种检测仪检测速度快；合格率高；设备成本低；结构新颖，占地面积小，易安装、易操作。