变频控制器性能测试方法、装置、存储介质和系统

    公开(公告)号:CN108734241A

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201810901783.9

    申请日:2018-08-09

    Abstract: 本申请涉及一种变频控制器性能测试方法、装置、存储介质和系统,该方法包括:获取信息扫描装置对变频控制器进行扫描得到的控制器标识信息;接收数据采集装置对所述变频控制器的测试数据进行数据采集得到的测试结果信息;将控制器标识信息和对应的测试结果信息关联存储至数据库服务器。关联存储的控制器标识信息和测试结果信息用作对变频控制器进行分厂入库校验。通过将控制器标识信息与对应的测试结果信息关联存储到数据库服务器中,关联的控制器标识信息和测试结果信息在后续进行分厂入库校验中作为校验依据,可确保校验准确可靠,能起到漏测防错的作用,提高了检测可靠性。

    变频控制器性能测试设备和系统

    公开(公告)号:CN211015561U

    公开(公告)日:2020-07-14

    申请号:CN201821283289.2

    申请日:2018-08-09

    Abstract: 本申请涉及一种变频控制器性能测试设备和系统,所述设备包括:对变频控制器进行扫描得到控制器标识信息并发送至控制装置的信息扫描装置;对变频控制器的测试数据进行数据采集得到测试结果信息并发送至控制装置的数据采集装置,将控制器标识信息和对应的测试结果信息关联存储至数据库服务器的控制装置,存储关联的控制器标识信息和测试结果信息的数据库服务器。数据采集装置用于连接测试盒,控制装置连接信息扫描装置、数据采集装置和数据库服务器。关联的控制器标识信息和测试结果信息在后续进行分厂入库校验中作为校验依据,可确保校验准确可靠,能起到漏测防错的作用,提高了检测可靠性。

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