一种组合测试装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109444715B

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN201811408454.7

    申请日:2018-11-23

    Abstract: 本发明涉及一种组合测试装置,包括:测试底板,ICT工装和FCT工装,相对设置在所述测试底板上,并间隔预设距离;所述ICT工装的ICT测试探针,与FCT工装的FCT测试探针高度不同。本发明提供的技术方案,通过将ICT工装和FCT工装集成在同一测试底板上,并采用不同高度的ICT测试探针及FCT测试探针,保证待测PCB板不同时间接触不同层次探针,ICT测试时接触低针,FCT测试时接触高针,从而实现ICT与FCT测试均使用同一个测试装置,实现了ICT、FCT合并测试,解决了ICT\FCT测试过程隔离和干扰问题。

    一种排气结构及其波峰焊设备
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117086433A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311012512.5

    申请日:2023-08-11

    Abstract: 本发明公开了一种排气结构及其波峰焊设备,该排气结构具体可以应用于波峰焊设备上。本发明的排气结构包括:聚流进风罩、气流输送管组以及连接管件,聚流进风罩至少部分罩设于自动输送装置的上方,自动输送装置具体为波峰焊的轨道;气流输送管组与聚流进风罩相连通,本发明通过在气流输送管组与聚流进风罩之间设置连接管件,并将连接管件倾斜设置,可以使得自动输送装置位于连接管件下方的口部在竖直方向的投影范围之外,本发明的排气结构降低了颗粒状锡珠锡渣随着热气向上漂浮,遇到排气结构的内壁后再次跌落到控制器主板上的机率,提高了控制器主板功能正常运行,提高了控制主板的成品率。

    一种功率器件快速测高装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115752162A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211424567.2

    申请日:2022-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种功率器件快速测高装置,包括电木支架、线性滑轨、滑块组件和测量机构,所述电木支架包括基座、主板支撑框架和龙门架,所述主板支撑框架和龙门架与基座固定连接,所述主板支撑框架安装于基座的内部,所述龙门架安装于基座的一侧,所述龙门架上设有线性滑轨,所述线性滑轨与滑块组件滑动连接,所述滑块组件与测量机构连接,所述测量机构垂直安装于龙门架上。本发明在测量过程中不需要手抬主板进行测试,降低工作人员的操作强度,提高了工作效率,避免了手工拿取主板无法保证板面水平的问题;本发明结构简单,实用性高,测量机构完美垂直于主板的板面设置,有效解决了测试时因卡尺未完全垂直而导致出现测量误差的问题。

    一种空调显示器多功能测试装置、检测方法及检测设备

    公开(公告)号:CN115201610A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202210906855.5

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 一种空调显示器多功能测试装置、检测方法及检测设备,包括:测试工装基座;工装面板,可拆卸地装配在所述工装基座上,所述工装面板上设置有与显示器组件端子连接的测试针座以及快测点位、船型开关;插接架体,固定在工装面板之上,用于固定待测试显示器组件;测试主控电气盒,装配在所述工装基座上,所述测试主控电气盒与所述测试针座和快测点位电性连接。本发明实现显示板及显示模块在一个工装上进行检测,同时工装面板及插接架体为可拆卸,方便针床及电机维修更换,取消了传统技术中采用气缸等机械结构夹持,不存在机械伤害,所有强电部分都封装在测试主控电气盒内,能有效保护操作人员安全,防止触电,防止漏电。

    一种组合测试装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109444715A

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201811408454.7

    申请日:2018-11-23

    Abstract: 本发明涉及一种组合测试装置,包括:测试底板,ICT工装和FCT工装,相对设置在所述测试底板上,并间隔预设距离;所述ICT工装的ICT测试探针,与FCT工装的FCT测试探针高度不同。本发明提供的技术方案,通过将ICT工装和FCT工装集成在同一测试底板上,并采用不同高度的ICT测试探针及FCT测试探针,保证待测PCB板不同时间接触不同层次探针,ICT测试时接触低针,FCT测试时接触高针,从而实现ICT与FCT测试均使用同一个测试装置,实现了ICT、FCT合并测试,解决了ICT\FCT测试过程隔离和干扰问题。

    一种测试装置
    6.
    发明公开
    一种测试装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118190386A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410418419.2

    申请日:2024-04-09

    Abstract: 本发明提供了一种测试装置,包括:测试盒,测试盒具有用于放置待测试部件的测试平台;驱动部,驱动部可转动地设置,驱动部用于与待测试部件连接;驱动组件,驱动组件与驱动部驱动连接,以使驱动部转动;控制模块,控制模块与驱动组件信号连接,通过控制模块控制驱动部的转动次数和转动方向;计数器,计数器与控制模块信号连接,以记录并显示驱动部的转动次数,本发明的测试装置解决了现有技术中旋转开关的测试作业计数不准确的问题。

    一种电池盖及遥控器
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117791032A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202410030752.6

    申请日:2024-01-09

    Abstract: 本发明提供了一种电池盖及遥控器,所述电池盖包括本体,所述本体的一侧包括卡接部,用于与电池安装槽卡接;所述卡接部包括凹槽,所述凹槽贯通所述卡接部的两侧,以使所述卡接部可进行压缩运动和回弹运动;所述凹槽设有固定部,且所述固定部连接所述凹槽的两侧壁。本申请通过在所述凹槽内设置固定部,所述固定部加强了所述凹槽的结构强度,从而使所述卡接部的回弹力加强,因而降低了所述电池盖在多次进行扣装后导致的所述卡接部出现变形的问题,提高了所述卡接部的回弹强度,降低所述电池盖出现松落的现象,从而大大提高所述遥控器的质量。

    一种下压机构及烧录设备
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119525170A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411700423.4

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本发明提供了一种下压机构及烧录设备,下压机构包括:托盘本体,所述托盘本体可移动地设置;所述托盘本体上设置有待烧录部件;压棒,所述压棒可移动地设置,以挤压所述托盘本体;所述压棒上设置有连接部;信号传输机构,所述信号传输机构与所述连接部信号连接;动作机构,所述动作机构与所述信号传输机构信号连接;当所述连接部运动时,所述信号传输机构向所述动作机构发送信号,以驱动所述动作机构运行,本发明的下压机构解决了相关技术中的烧录设备的效率低的技术问题。

    测试治具、测试设备及测试方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117031083A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310822110.5

    申请日:2023-07-04

    Abstract: 本发明涉及一种测试治具、测试设备及测试方法,涉及测试设备技术领域。本发明的测试治具包括上天盘组件、下天盘组件以及测试组件;上天盘组件能够沿上下方向移动;下天盘组件与所述上天盘组件可拆卸地连接;测试组件位于所述下天盘组件的下方,所述测试组件用于放置并测试待测电路板;其中,所述下天盘组件可随所述上天盘组件沿上下方向移动,以压紧所述待测电路板,使所述待测电路板的元件面上的检测点与所述测试组件相接触。本发明所公开的技术方案能够减少物料消耗、降低生产成本。

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