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发明公开
一种超低温真空状态下换热结构的导热效率测试系统无效

公开(公告)号：CN113834848A

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN202010512167.1

申请日：2020-06-08

Applicant: 核工业西南物理研究院

Inventor： 孙振超 , 魏海鸿 , 潘传杰 , 罗蓉蓉 , 陈辉 , 阎腾飞 , 李鹏远

IPC: G01N25/20 , G01M99/00

Abstract: 本发明公开了一种超低温真空状态下换热结构的导热效率测试系统。包括液氮循环回路、真空系统和温度测试与记录系统，其中，换热结构放置在真空系统中，真空系统用于使换热结构处于真空绝热条件下，液氮循环回路的部分回路置于真空系统中用于为换热结构提供液氮，温度测试与记录系统用于测量换热结构温度并记录相关数据。本发明的效果是：本系统导热测试发生在真空、绝热、超低温条件下，最大限度地降低了对流、热传导、热辐射的影响，并达到超导线圈支撑部件的实际工作温度，确保导热效率测试结果的可靠性。

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