公开(公告)号：CN119880897A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510074428.9

申请日：2025-01-17

Applicant: 核工业西南物理研究院

Inventor： 龙婷 ,  聂林 ,  石中兵 ,  柯锐 ,  田文静 ,  周永康 ,  龚少博 ,  王哲 ,  张朋飞

IPC: G01N21/84 ,  H05H1/02

Abstract: 本发明公开了一种用于多普勒相干成像光谱诊断的干涉条纹标定系统及方法，该系统包括正反向双光路多普勒相干成像系统和外部移动光源。正反向双光路多普勒相干成像系统分别从两个相反方向对磁约束等离子体装置内部同一发光区域的波长为目标多重态谱线的光进行干涉条纹成像。移动外部光源可实现装置内部粒子发光测量模式与外部激光测量模式的切换。结合装置内部发光区域目标多重态谱线的干涉条纹图像和外部激光的干涉条纹图像，可计算目标多重态谱线的实际中心波长，获得装置内部发光粒子无定向运动时干涉条纹的相位分布以实现标定。本发明可避免在干涉条纹标定时由于数据库计算中心波长与实际中心波长不一致而导致粒子速度测量不准确的问题。