-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111929127A
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN202010713562.6
申请日：2020-07-23
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明聚变装置等离子体测量技术，具体为一种原位实时定量诊断聚变装置面壁部件腐蚀沉积的方法。首先制备等离子体辐照前多层膜PFCs，之后采集LIBS光谱，确定LIBS激光脉冲数和标记层的绝对厚度，多层膜PFCs经过辐照后，再次采集其LIBS光谱，确定LIBS激光脉冲数和标记层绝对厚度，得出辐照前后的标记层绝对厚度变化，积分求解得出PFCs腐蚀与沉积的绝对质量。本方法深度分辨测量聚变等离子体辐照前后多层膜偏滤器面壁部件的厚度变化，绝对定量诊断出PFCs的腐蚀与沉积量，从而实现对PFCs腐蚀与沉积的原位、实时诊断监测。
-
公开(公告)号：CN118169104A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410285478.7
申请日：2024-03-13
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G01N21/67
Abstract: 本发明公开了一种液体电极放电发射光谱的高时间分辨测量方法及系统，涉及光谱测量技术领域，其技术方案要点是：通过高精度时序可控脉冲电源产生在纳秒量级时间尺度上可重复的微等离子体；通过聚焦透镜将微等离子体元素的发射光汇聚到光学探测系统；通过门控功能相机多次采集光学探测系统中微等离子体元素在同一时间段的元素发射光谱；将多个处于同一时间段的元素发射光谱累加处理，得到微等离子体元素在对应时间段的高时间分辨测量光谱。本发明可突破以往高速相机时间分辨的限制，为微等离子体放电发射光谱测量提供更高精度的时间分辨率，可实现微等离子体元素发射光谱纳秒量级的高时间分辨测量。
-
公开(公告)号：CN111929127B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202010713562.6
申请日：2020-07-23
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明聚变装置等离子体测量技术，具体为一种原位实时定量诊断聚变装置面壁部件腐蚀沉积的方法。首先制备等离子体辐照前多层膜PFCs，之后采集LIBS光谱，确定LIBS激光脉冲数和标记层的绝对厚度，多层膜PFCs经过辐照后，再次采集其LIBS光谱，确定LIBS激光脉冲数和标记层绝对厚度，得出辐照前后的标记层绝对厚度变化，积分求解得出PFCs腐蚀与沉积的绝对质量。本方法深度分辨测量聚变等离子体辐照前后多层膜偏滤器面壁部件的厚度变化，绝对定量诊断出PFCs的腐蚀与沉积量，从而实现对PFCs腐蚀与沉积的原位、实时诊断监测。
-
公开(公告)号：CN112927822A
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN201911234873.8
申请日：2019-12-05
Applicant: 核工业西南物理研究院 , 厦门钨业股份有限公司
Abstract: 本发明属于聚变反应堆技术，具体涉及一种用于聚变反应堆的具有阻氚功能的第一壁及制备方法。第一壁包括面向等离子体材料、中间层和聚变反应堆结构材料，等离子体材料为化学气相沉积的钨涂层，聚变反应堆结构材料为低活化钢，中间层为氮化钛或类似的阻氚涂层。制备时，首先在基材上制备阻氚涂层，然后在阻氚涂层上制备钨涂层。用厚钨涂层取代钨块，满足第一壁工况要求和使用寿命要求且提高了第一壁结构的重量和经济性。显著降低等离子体运行过程中的感应电流及相应的电磁载荷，既能够满足聚变反应堆中第一壁的苛刻工况要求，又减小了第一壁部件中氚滞留量，从而提高了聚变反应堆氚循环效率，降低了氚增殖和氚供给的需求。
-
公开(公告)号：CN211742660U
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201922163894.7
申请日：2019-12-05
Applicant: 核工业西南物理研究院 , 厦门钨业股份有限公司
IPC: G21B1/13
Abstract: 本实用新型属于聚变反应堆技术，具体涉及一种用于聚变反应堆的具有阻氚功能的第一壁。包括沉积层、中间层和基底，沉积层为钨涂层，直接接触等离子体，中间层为阻氚涂层，位于沉积层和基底之间。用钨涂层取代钨块，满足第一壁工况要求和使用寿命要求且提高了第一壁结构的重量和经济性。显著降低等离子体运行过程中的感应电流及相应的电磁载荷，既能够满足聚变反应堆中第一壁的苛刻工况要求，又减小了第一壁部件中氚滞留量，从而提高了聚变反应堆氚循环效率，降低了氚增殖和氚供给的需求。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.03 seconds)
