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发明公开
测量系统审中-实审

公开(公告)号：CN116734726A

公开(公告)日：2023-09-12

申请号：CN202211095736.2

申请日：2022-09-08

Applicant: 株式会社野村综合研究所

Inventor： 杨梦龙 , 田边里美 , 高桥俊司 , 清水直树

IPC: G01B11/00 , G01B11/03 , G01B11/25

Abstract: 本发明提供一种测量系统，其高精度地测量物体的形状。测量系统包括：框线识别部，其从拍摄图像中检测出表示直线部分的1个以上的框线；深度测量部，其执行深度测量；和尺寸推算部，其基于拍摄图像和深度测量的结果，计算框线的长度。测量系统也可以具有从拍摄图像中确定出测量对象物所存在于的范围的功能。

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