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公开(公告)号:CN111149214A
公开(公告)日:2020-05-12
申请号:CN201880061858.5
申请日:2018-09-20
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L29/78 , H01L21/316 , H01L21/336 , H01L29/12
Abstract: 以将栅极电极(8)的一部分热氧化而形成的热氧化膜(10a)作为第1层间绝缘膜而进行栅极电极(8)与源极电极(12)的绝缘。通过将栅极电极(8)的一部分热氧化而构成的热氧化膜不成为从SiC表面过于突出的形状,因此不易产生由伴随温度变化等的应力引起的裂纹。因此,能够确保栅极-源极间的绝缘分离。另外,第2层间绝缘膜(11)通过回蚀而从源极区域(4)及基体区域(3)的接触区域之上被去除。因此,在隔着栅极电极(8)的两侧,能够可靠地进行源极电极(12)的接触。
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公开(公告)号:CN118380457A
公开(公告)日:2024-07-23
申请号:CN202410066750.2
申请日:2024-01-17
IPC: H01L29/06 , H01L29/16 , H01L29/861 , H01L21/329 , H01L29/423 , H01L29/78 , H01L27/07
Abstract: 本发明提供二极管、内置二极管的场效应晶体管及二极管的制造方法。本发明提供一种在具备由SiC构成的半导体基板的二极管中使蓄积于n型的半导体区域的空穴的量降低来抑制通电劣化的技术。在具备由SiC构成的半导体基板的二极管中,半导体基板具备:p型的第一半导体区域;漂移区域,其从下侧与第一半导体区域相接;以及n型的第二半导体区域,其从下侧与漂移区域相接。漂移区域具有使多个p型柱区域和多个n型柱区域沿横向交替地配置的构造。在漂移区域的深度方向的一部分,设有跨多个p型柱区域和多个n型柱区域分布的特定区域。在特定区域内,p型柱区域的有效p型杂质浓度比其周围低,n型柱区域的有效n型杂质浓度比其周围高。
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公开(公告)号:CN111149214B
公开(公告)日:2023-11-03
申请号:CN201880061858.5
申请日:2018-09-20
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L29/78 , H01L21/316 , H01L21/336 , H01L29/12
Abstract: 以将栅极电极(8)的一部分热氧化而形成的热氧化膜(10a)作为第1层间绝缘膜而进行栅极电极(8)与源极电极(12)的绝缘。通过将栅极电极(8)的一部分热氧化而构成的热氧化膜不成为从SiC表面过于突出的形状,因此不易产生由伴随温度变化等的应力引起的裂纹。因此,能够确保栅极-源极间的绝缘分离。另外,第2层间绝缘膜(11)通过回蚀而从源极区域(4)及基体区域(3)的接触区域之上被去除。因此,在隔着栅极电极(8)的两侧,能够可靠地进行源极电极(12)的接触。
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