公开(公告)号：CN104348338A

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：CN201410369596.2

申请日：2014-07-30

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 三浦亮太郎 ,  后藤崇

IPC: H02M1/08

CPC classification number: H03K17/08112 ,  H03K17/167 ,  H03K17/168 ,  H02M1/082

Abstract: 本发明涉及半导体元件模块和栅极驱动电路。所述半导体元件模块(1、21、31)包括驱动元件(2)和电压变化检测元件(3)，每个所述电压变化检测元件(3)由电压驱动半导体元件形成。所述电压变化检测元件检测所述驱动元件的集电极与发射极之间或漏极与源极之间的电压的变化。所述电压变化检测元件的集电极或漏极连接到所述驱动元件的集电极或漏极，并且所述电压变化检测元件的栅极连接到所述电压变化检测元件的发射极或源极。所述电压变化检测元件的发射极或源极被提供为检测端子(S)。

公开(公告)号：CN104348338B

公开(公告)日：2018-04-20

申请号：CN201410369596.2

申请日：2014-07-30

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 三浦亮太郎 ,  后藤崇

IPC: H02M1/08

CPC classification number: H03K17/08112 ,  H03K17/167 ,  H03K17/168

Abstract: 本发明涉及半导体元件模块和栅极驱动电路。所述半导体元件模块(1、21、31)包括驱动元件(2)和电压变化检测元件(3)，每个所述电压变化检测元件(3)由电压驱动半导体元件形成。所述电压变化检测元件检测所述驱动元件的集电极与发射极之间或漏极与源极之间的电压的变化。所述电压变化检测元件的集电极或漏极连接到所述驱动元件的集电极或漏极，并且所述电压变化检测元件的栅极连接到所述电压变化检测元件的发射极或源极。所述电压变化检测元件的发射极或源极被提供为检测端子(S)。