半导体器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1707953A

    公开(公告)日:2005-12-14

    申请号:CN200510075585.4

    申请日:2005-06-06

    Abstract: 一种I/O缓冲器区段具有状态设置电路。状态设置电路根据存储在设置寄存器中的控制信号的组合将任意设置I/O终端的信号状态。这样,即使在I/O终端最初设置为信号保持状态的情形中I/O缓冲器区段也能被状态设置电路暂时设置为Hi-Z状态。因此,可进行漏电测试来测试I/O缓冲器区段是好还是不好,可提高半导体器件的可靠性。

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