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发明公开
损伤测定方法、装置、记录介质以及X射线衍射装置审中-实审

公开(公告)号：CN116804639A

公开(公告)日：2023-09-26

申请号：CN202310292387.1

申请日：2023-03-23

Applicant: 株式会社理学 , 中部电力株式会社

Inventor： 横山亮一 , 表和彦 , 小林大辅

IPC: G01N23/207 , G01N23/20008

Abstract: 提供一种不管周围的状态如何都能够对单晶状态的试样的损伤进行测定的损伤测定方法、装置、记录介质以及X射线衍射装置。包含如下步骤：将细束的白色X射线照射到单晶状态的试样的步骤(S03)；检测通过照射产生的衍射光斑的步骤(S05)；算出与检测出的衍射光斑的特定方向的强度分布的方差有关的系数的步骤(S06)；以及从所算出的系数确定试样的损伤状态的步骤。“单晶状态”是指材料由单晶或粗大晶粒形成的状态。

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