公开(公告)号：CN110383052A

公开(公告)日：2019-10-25

申请号：CN201880015532.9

申请日：2018-01-25

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 谷口弥生 ,  森川惠一

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/207

Abstract: 根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。

公开(公告)号：CN110383052B

公开(公告)日：2022-05-03

申请号：CN201880015532.9

申请日：2018-01-25

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 谷口弥生 ,  森川惠一

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/201 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207

Abstract: 根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。