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发明公开
X射线衍射数据处理装置和X射线分析装置审中-实审

公开(公告)号：CN119278377A

公开(公告)日：2025-01-07

申请号：CN202380025862.7

申请日：2023-03-06

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小城彩 , 小林信太郎 , 尾芳功系兆

IPC: G01N23/207 , G01N23/2055

Abstract: 峰二维检测数据提取部(211)从在多个扫描角度2θ/θ得到的衍射X射线(Xb)的二维检测数据中提取X射线强度最大的衍射X射线(Xb)的二维检测数据(峰二维检测数据)。接下来，峰位置确定部(212)根据峰二维检测数据确定X射线强度最大的位置(峰位置)。然后，利用关于峰二维检测数据确定的峰位置的位置信息执行数据处理。

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