公开(公告)号：CN119557532A

公开(公告)日：2025-03-04

申请号：CN202411236117.X

申请日：2024-09-04

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 吉元政嗣 ,  表和彦

IPC: G06F17/10 ,  G06F30/20 ,  G06F18/23 ,  G16C60/00

Abstract: 提供算出结构模型的特征量的计算装置、方法以及程序。一种算出结构模型的特征量的计算装置(100)，具备：计算前结构模型取得部(110)，其取得周期性地排列有原子的计算前结构模型；计算前信息取得部(120)，其取得确定计算前结构模型中的周期性地排列的原子的计算前信息；计算后结构模型取得部(130)，其取得以计算前结构模型为原始数据计算出的计算后结构模型；计算后信息取得部(140)，其取得通过基于计算前信息将计算后结构模型中的原子聚类化而得到的聚类信息和作为计算后结构模型中的原子的位置信息的原子位置信息；以及特征量算出部(150)，其基于聚类信息和原子位置信息算出具有相同的聚类信息的原子的重心位置。

公开(公告)号：CN117807347A

公开(公告)日：2024-04-02

申请号：CN202311275932.2

申请日：2023-09-28

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 吉元政嗣 ,  表和彦 ,  伊藤和辉

IPC: G06F17/10 ,  G01N23/207

Abstract: 提供一种计算包含总散射数据和结构模型的数据的结构因子的处理装置、处理系统、处理方法以及记录介质。处理结构因子的处理装置(400)具备：结构因子取得部(410)，其取得基于实测到的总散射数据的第1结构因子；数据转换部(420)，其将所述第1结构因子分离为短距离相关和长距离相关；以及散射强度计算部(430)，其取得表示有限区域内的原子排列的结构模型，计算所述结构模型的短距离散射强度，根据所述短距离散射强度和所述长距离相关来计算第2结构因子。

公开(公告)号：CN116773567A

公开(公告)日：2023-09-19

申请号：CN202310263106.X

申请日：2023-03-17

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 吉元政嗣

IPC: G01N23/20 ,  G16C60/00 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20016

Abstract: 提供一种能够校正根据总散射数据算出的结构因子的校正装置、校正系统、校正方法以及记录介质。校正结构因子的校正装置具备：结构因子取得部，其取得结构因子；对分布函数算出部，其根据取得的结构因子算出对分布函数；校正函数创建部，其创建包含对分布函数的数据和将对分布函数的长距离侧的数据截断的截断函数并在规定范围内进行了傅立叶变换的第1校正函数和包含截断函数并在规定范围内进行了傅立叶变换的第2校正函数；校正量算出部，其算出包含第1校正函数、第2校正函数以及比例因子的校正量；结构因子校正部，其使用校正量来校正结构因子；以及R值算出部，其算出包含第1校正函数和第2校正函数并表示校正的精度的R值。