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发明公开
X射线测定装置以及系统审中-实审

公开(公告)号：CN112611771A

公开(公告)日：2021-04-06

申请号：CN202011029075.4

申请日：2020-09-25

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 今野翔太 , 畑山雄二 , 佐佐木珉贞

IPC: G01N23/20008

Abstract: 本发明提供X射线测定装置以及系统，不转移视线或使身体移动去确认，仅用作业现场中的视觉信息就能认识应交换的部件或交换了的部件的适合与否。X射线测定装置(X射线衍射装置2)通过多个部件来构成X射线分析的测定系统，具备：装置主体；直接或间接安装于装置主体、能对应于测定类别从多种类中选择应安装的种类的对象部件(选择狭缝41)以及不能选择种类的非对象部件；和针对测定类别显示所安装的对象部件的适合与否的显示部(选择狭缝用显示部41a)。

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