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公开(公告)号：CN116783489A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202180091709.5
申请日：2021-11-25
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/02
Abstract: 本发明提供不需要精度管理试样的余量管理的自动分析装置。一种自动分析装置，具备：投入部，其被投入容纳检体或精度管理试样的容器；ID读取器，其读取对所述容器赋予的ID；控制部，其对所述ID分配测定项目并且控制各部；以及分析部，其基于所述测定项目，从所述容器分注所述检体或所述精度管理试样来实施分析，所述自动分析装置的特征在于，所述控制部在容纳所述精度管理试样的第一容器中的液量不充足时，将对所述第一容器的ID分配的测定项目中的未实施的测定项目分配给容纳所述精度管理试样的第二容器的ID，并使所述分析部实施分析。
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