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公开(公告)号：CN102656463B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201080057284.8
申请日：2010-11-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/02
CPC classification number: G01N35/00603
Abstract: 本发明提供在具备前处理机构的自动分析装置中，能够进行迅速的自动再检、并且能够抑制原检测体以及前处理液的消耗量的自动分析装置。该自动分析装置具备：收放原检测体的原检测体容器；用于对从该原检测体容器分注的原检测体进行前处理的前处理容器；将原检测体向该前处理容器分注的原检测体分注机构；用于对从该前处理容器分注的前处理完毕检测体进行分析的反应容器；以及将前处理完毕检测体向该反应容器分注的前处理完毕检测体分注机构，该自动分析装置具备控制机构，该控制机构基于自动再检的设定有无、检测体的种类的至少任一个的信息，对利用上述原检测体分注机构进行的从上述原检测体容器向上述前处理容器的原检测体的分注进行控制。
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公开(公告)号：CN111788479B
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN201880061604.3
申请日：2018-12-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/26 , G01N27/416 , G01N33/84
Abstract: 本发明的目的在于，提供不增设用于检测对象离子的离子选择电极之外的离子选择电极、且能够降低由共存离子带来的影响的自动分析装置。本发明的自动分析装置使用计算离子选择电极的选择系数的结果、和计测试样中所含的共存离子浓度的结果来计算上述试样中所含的对象离子浓度(参照图2)。
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公开(公告)号：CN112639481A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN201980057145.6
申请日：2019-10-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的自动分析装置能设定测定项目和试剂余量的阈值，能避免即使余量为0也判断为有余量的情况，抑制试剂分注不良。分注试剂，存储部确认是否设定死区容积(步骤501‑503)。没有设定死区容积时通过液面传感器或软件计数来判定试剂瓶内的试剂是否为死区容积的初始值以上，为初始值以上时进入下一个检体的测定，在小于初始值的时结束该试剂瓶的使用并更换试剂瓶继续测定(步骤505、508)。存在死区容积的设定时判别试剂瓶内的试剂余量是否为设定量以上，为设定量以上时进入下一个检体的测定，试剂瓶内的试剂余量小于设定量时结束该试剂瓶的使用并更换到下一个试剂瓶继续测定(步骤504、506、507)。
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公开(公告)号：CN116783477A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202180085460.7
申请日：2021-10-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/38
Abstract: 本发明提供一种能够尽早检测离子选择电极的异常的电解质分析装置及其异常判定方法。本发明所涉及的电解质分析装置包括：产生与试料中所包含的离子浓度对应的电位即试料电位的离子选择性电极；产生成为基准的电位即基准电位的比较电极；以及浓度计算部，该浓度计算部基于所述试料电位与所述基准电位之间的电位差计算所述离子浓度，其特征在于，还包括:异常判定部，该异常判定部基于使用洗涤剂电位计算的评价值来判定有无异常，该洗涤剂电位是在提供了洗涤剂时由所述离子选择性电极产生的电位。
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公开(公告)号：CN111788479A
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201880061604.3
申请日：2018-12-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/26 , G01N27/416 , G01N33/84
Abstract: 本发明的目的在于，提供不增设用于检测对象离子的离子选择电极之外的离子选择电极、且能够降低由共存离子带来的影响的自动分析装置。本发明的自动分析装置使用计算离子选择电极的选择系数的结果、和计测试样中所含的共存离子浓度的结果来计算上述试样中所含的对象离子浓度(参照图2)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116829932A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202180092129.8
申请日：2021-12-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/26
Abstract: 本发明包括：电解质测定部(11)、进行与电解质测定部(11)不同测定项目的测定的第二测定部、对电解质测定部(11)或第二测定部进行试样的分注的采样机构(5)、以及控制各设备的动作的控制部(13)，控制部(13)在通过采样机构(5)向第二测定部分注试样时或者在第二测定部测定试样时，在离子选择性电极(104、105、106)中填充有内部标准液的状态下测定电位，根据测定数据判定电解质测定部(11)有无异常。由此，提供一种能够早期察觉不稳定状态的电解质分析装置及电解质浓度测定单元的异常判定方法。
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公开(公告)号：CN114041059A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202080046056.4
申请日：2020-03-09
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00
Abstract: 本发明的自动分析装置具备：测定试样的电解质浓度的ISE测定部(32)；测定试样的生化项目的分光光度计(14)；测定试样的pH的pH测定机构(34)；从容纳有试样的容器进行ISE测定部(32)或分光光度计(14)中的测定用的试样的分注的试样分注机构(21、22)；以及输送容器的输送机构(27)，输送机构(27)、试样分注机构(21、22)以及pH测定机构(34)被配置为pH测定机构(34)进行的试样的pH测定用的分注或pH测定在试样分注机构(21、22)进行的试样分注之后。
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公开(公告)号：CN101561445B
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN200910133572.6
申请日：2009-04-16
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00
CPC classification number: G01N35/0092 , G01N35/00603 , G01N35/00663 , G01N35/00722 , G01N35/0095 , G01N2035/00673 , G01N2035/00752 , G01N2035/009 , G01N2035/0091
Abstract: 本发明提供一种自动分析装置，其对于进行了异常处理的检测体，记录异常处理的过程，确保追踪性。此外，当在分析过程中产生了由检测体或试剂引起的异常时，可以简单地执行针对异常的处置、处置后的再次测定委托、结果的确认这样的一连串的过程。具备进行了异常处理的检测体专用的数据库，记录异常处理内容。此外，具备由专用的再次测定委托画面、测定结果画面、异常处理追踪画面构成的专用的画面。此外，还具备引导针对各种异常的处置方法的功能。
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公开(公告)号：CN115280156A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202180019843.4
申请日：2021-01-18
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00
Abstract: 本发明提供用于推定精度管理物质的测定值的变动原因的自动分析装置。本发明是用于分析检体的自动分析装置，其特征在于，包括：获取用于精度管理的精度管理物质的测定值的变动量的获取部、基于用于校准的校正液的浓度值的批次变更前后的差分值计算变动预测量的计算部、以及基于所述变动量和所述变动预测量的比较结果，推定在所述精度管理物质的测定值中产生的变动原因的推定部。
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公开(公告)号：CN102656463A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201080057284.8
申请日：2010-11-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/02
CPC classification number: G01N35/00603
Abstract: 本发明提供在具备前处理机构的自动分析装置中，能够进行迅速的自动再检、并且能够抑制原检测体以及前处理液的消耗量的自动分析装置。该自动分析装置具备：收放原检测体的原检测体容器；用于对从该原检测体容器分注的原检测体进行前处理的前处理容器；将原检测体向该前处理容器分注的原检测体分注机构；用于对从该前处理容器分注的前处理完毕检测体进行分析的反应容器；以及将前处理完毕检测体向该反应容器分注的前处理完毕检测体分注机构，该自动分析装置具备控制机构，该控制机构基于自动再检的设定有无、检测体的种类的至少任一个的信息，对利用上述原检测体分注机构进行的从上述原检测体容器向上述前处理容器的原检测体的分注进行控制。
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