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公开(公告)号：CN108475614B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201680076701.0
申请日：2016-01-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够高精度地检测离子量的质量分析装置及其离子检测方法。为了实现上述目的，一种使施加于质量分离部(102)的电压发生变化而选择性地提取所希望的离子，来进行通道扫描测定的质量分析装置(100)，该质量分析装置(100)设有：离子检测部(103)，其检测由质量分离部(102)分离出的离子，并输出电信号；离子量测定部(104)，其根据离子检测部(103)的输出测定离子量；以及离子量修正部(105)，其根据离子量测定部(104)的输出修正离子检测量，离子量修正部(105)在通道扫描的过程中，基于前1个通道的离子检测量修正在当前通道中检测出的离子检测量。
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公开(公告)号：CN108475614A
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201680076701.0
申请日：2016-01-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够高精度地检测离子量的质量分析装置及其离子检测方法。为了实现上述目的，一种使施加于质量分离部(102)的电压发生变化而选择性地提取所希望的离子，来进行通道扫描测定的质量分析装置(100)，该质量分析装置(100)设有：离子检测部(103)，其检测由质量分离部(102)分离出的离子，并输出电信号；离子量测定部(104)，其根据离子检测部(103)的输出测定离子量；以及离子量修正部(105)，其根据离子量测定部(104)的输出修正离子检测量，离子量修正部(105)在通道扫描的过程中，基于前1个通道的离子检测量修正在当前通道中检测出的离子检测量。
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