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公开(公告)号：CN106471376A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201580033589.8
申请日：2015-06-01
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 由于分注取样器与反应容器的间隙中产生的毛细管现象，吐出试药时试药上爬，从而不得不将分注取样器清洗领域决定得较广。本发明提供一种自动分析装置，其中，反应容器(50)在内部侧壁面上具有向内部侧突出的台阶部(51)，所述控制部使所述分注取样器(60)下降从而所述分注取样器的前端到达所述台阶部的下方，在使分注取样器接触台阶部的状态下吐出试药。
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公开(公告)号：CN103635568A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201280031142.3
申请日：2012-05-31
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: C12M1/00
CPC classification number: B01L7/52 , B01L2200/148 , B01L2300/024 , B01L2300/0829 , B01L2300/1822
Abstract: 在常规方法中，在能够单独控制温度的温度控制模块的温度绝对值的修正中使用校正完的温度测定探头的情况下，温度控制模块间残留有最大为0.5℃的温度差。与此相对，本发明将对应于各温度控制模块的各反应容器中容纳的温度校正试样的熔解温度作为测定熔解温度进行测定。然后，将对应于各温度控制模块的测定熔解温度与温度校正试样的标准熔解温度进行比较，从而基于各差值对各温度控制模块的温度绝对值进行修正。
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公开(公告)号：CN106471376B
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201580033589.8
申请日：2015-06-01
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 由于分注取样器与反应容器的间隙中产生的毛细管现象，吐出试药时试药上爬，从而不得不将分注取样器清洗领域决定得较广。本发明提供一种自动分析装置，其中，反应容器(50)在内部侧壁面上具有向内部侧突出的台阶部(51)，所述控制部使所述分注取样器(60)下降从而所述分注取样器的前端到达所述台阶部的下方，在使分注取样器接触台阶部的状态下吐出试药。
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公开(公告)号：CN105705949A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201480060943.1
申请日：2014-12-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
Inventor： 佐野稔
CPC classification number: G01N35/1016 , C12Q1/686 , G01N2035/00425 , G01N2035/00435 , G01N2035/1025
Abstract: 提供具备液面检测功能或液滴收集功能、以及保冷功能的高效使用容纳在容器(22)中的试剂或检体等液体并进行高精度分析的分析装置(1)。该分析装置(1)具备：分注装置(2)、安装在分注装置(2)上的分注头(21)、内置有由分注装置(2)吸取的液体的容器(22)、保持容器(22)的支架(23)、覆盖容器(22)的外表面的导体(24)、检测分注头(21)与导体(24)之间的静电容量的控制部(4)、和/或对一对电极(41、42)之间的电场进行控制的控制部(4)、以及对容器(22)进行保冷的保冷装置(60)，容器(22)具有越深的位置则水平方向的截面积越小的2个以上的截面形状(S1、S2)。
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公开(公告)号：CN104968776A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201480005833.5
申请日：2014-01-27
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: B01L7/5255 , B01L3/5082 , B01L2200/147 , B01L2300/0803 , B01L2300/1822 , B01L2300/1827 , B01L2300/1844
Abstract: 本发明的目的在于能够有效率地实施针对不同分析项目的、以PCR法、恒温扩增法为代表的核酸分析方法，特别是能够容易地进行温度调节功能的故障检测。本发明为一种使混合有检查用材料与试剂的反应液的核酸扩增的核酸扩增装置，包括：设有多个调温区块的圆盘传送带，该多个调温区块分别保持容纳反应液的至少1个反应容器；设置于前述圆盘传送带的温度调节装置；分别设置于前述多个调温区块、对前述反应液的温度进行调整的温度调节装置；对核酸扩增装置内部的气氛温度进行调整的温度调节装置；根据温度的测定结果进行故障检测的控制装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103003409B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201180035590.6
申请日：2011-07-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: C12Q3/00 , B01L7/52 , G01N35/0092 , G01N35/026 , G01N35/04
Abstract: 一种核酸增幅检测方法中采用：具有多个反应容器的装载孔，能够将孔独立地调整为任意的温度的装载机构(温度调节机构)；对装载于孔的容器内的试样进行测定的测定机构。装载机构与测定机构对置配置，且为彼此能够独立动作的机构。另外，在进行移动动作之际，以使各速度之和成为任意的恒定值的方式来控制温度调节机构与测定机构的动作速度。
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公开(公告)号：CN102301239B
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN200980155822.4
申请日：2009-12-14
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N35/025
Abstract: 本发明涉及分析装置及圆盘的旋转控制方法。本发明的目的涉及在使用了圆盘的自动分析装置中，能够以高处理能力对被随机性委托的、预处理时间不同的试样及测定时间不同的试样进行处理的自动分析装置。本发明涉及在使用了圆周上具有多个试样位置的圆盘的试样分析中，实施了调节旋转、原点复位旋转以及测定旋转的自动分析装置及圆盘的旋转控制方法。其中，调节旋转是指，为将试样导入到圆盘上或将其废弃而将所期望的试样位置配置到特定位置上的动作。原点复位旋转是指将圆盘的原点配置到特定位置的动作。测定旋转是指，为测定保持于圆盘上的多个试样而以预定速度使圆盘旋转的动作。
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公开(公告)号：CN106076449B
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201610367955.X
申请日：2011-04-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: B01L7/52 , B01L3/5082 , B01L7/525 , B01L7/5255 , B01L2300/1822 , G01N35/025 , G01N2035/00366
Abstract: 本发明提供一种核酸增幅装置及使用了该核酸增幅装置的核酸检查装置。核酸增幅装置设置保持件(3)，该保持件(3)设置了多个温度调节部件(10)，该温度调节部件(10)分别保持至少一个收放了反应液的反应容器(105)，利用设在多个温度调节部件(10)的各个上的温度调整装置(14、15)在各反应容器(105)中分别调整反应液的温度。在各温度调节部件(10)中设定的温度、及温度变化的时机不依赖于其他温度调节部件(10)的温度而控制。由此，能够并列处理协定不同的多种检测体，并且即使具有实施中的处理也能够开始检测体的处理。
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公开(公告)号：CN102884169B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201180022783.8
申请日：2011-04-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: B01L7/52 , B01L3/5082 , B01L7/525 , B01L7/5255 , B01L2300/1822 , G01N35/025 , G01N2035/00366
Abstract: 本发明提供一种核酸增幅装置及使用了该核酸增幅装置的核酸检查装置。核酸增幅装置设置保持件（3），该保持件（3）设置了多个温度调节部件（10），该温度调节部件（10）分别保持至少一个收放了反应液的反应容器（105），利用设在多个温度调节部件（10）的各个上的温度调整装置（14、15）在各反应容器（105）中分别调整反应液的温度。在各温度调节部件（10）中设定的温度、及温度变化的时机不依赖于其他温度调节部件（10）的温度而控制。由此，能够并列处理协定不同的多种检测体，并且即使具有实施中的处理也能够开始检测体的处理。
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公开(公告)号：CN103635568B
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201280031142.3
申请日：2012-05-31
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: C12M1/00
CPC classification number: B01L7/52 , B01L2200/148 , B01L2300/024 , B01L2300/0829 , B01L2300/1822
Abstract: 在常规方法中，在能够单独控制温度的温度控制模块的温度绝对值的修正中使用校正完的温度测定探头的情况下，温度控制模块间残留有最大为0.5℃的温度差。与此相对，本发明将对应于各温度控制模块的各反应容器中容纳的温度校正试样的熔解温度作为测定熔解温度进行测定。然后，将对应于各温度控制模块的测定熔解温度与温度校正试样的标准熔解温度进行比较，从而基于各差值对各温度控制模块的温度绝对值进行修正。
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