公开(公告)号：CN1265764C

公开(公告)日：2006-07-26

申请号：CN02122164.2

申请日：2002-05-31

Applicant: 株式会社日立医药

Inventor： 植木広则 ,  冈岛健一

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/5282

Abstract: 在X射线检查装置中，去除包含在X射线图像中的散射X射线成分，得到高质量的X射线图像，在作为X射线源的X射线管(1)与被检查体(6)之间配置X射线栅(3)，构成为根据这时在X射线图像中产生的干涉条纹的振幅计算包含在X射线图像中的散射X射线成分并且进行去除，能够以较少的曝光线量，得到高品质的X射线拍摄像，X射线透视像，X射线CT像等。

公开(公告)号：CN1393205A

公开(公告)日：2003-01-29

申请号：CN02122164.2

申请日：2002-05-31

Applicant: 株式会社日立医药

Inventor： 植木広则 ,  冈岛健一

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/5282

Abstract: 在X射线检查装置中，去除包含在X射线图像中的散射X射线成分，得到高质量的X射线图像，在作为X射线源的X射线管(1)与被检查体(6)之间配置X射线栅(3)，构成为根据这时在X射线图像中产生的干涉条纹的振幅计算包含在X射线图像中的散射X射线成分并且进行去除，能够以较少的曝光线量，得到高品质的X射线拍摄像，X射线透视像，X射线CT像等。