粒子束计测结果分析装置及方法

    公开(公告)号:CN113795752B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202080028677.X

    申请日:2020-04-24

    Abstract: 即使不存在充分地具有与散射体有关的前提知识的专家也能够进行分析作业,易于进行分析的自动化。本申请发明的优选的一侧面是基于散射图案算出表示试样的空间构造的空间参数分布的装置,该散射图案是向试样入射与试样相互作用的粒子束并检测出其散射的结果而得到的、试样的空间构造向波数空间的投影。在该装置中,具有相互作用估计部,其对于散射图案上的信号,建立对应并估计其在散射的过程中与试样的空间参数分布上的哪个点进行了相互作用。此外,具有参数分布算出部,其汇聚相互作用估计部的估计结果,算出适合于所汇聚的结果的试样的空间参数分布。此外,具有空间参数高精度化计算部,其交替地多次进行相互作用估计部的估计和参数分布算出部的计算,提高空间参数分布的估计精度。该装置是特征在于构成为以上那样的粒子束计测结果分析装置。

    粒子束实验数据分析装置

    公开(公告)号:CN113795752A

    公开(公告)日:2021-12-14

    申请号:CN202080028677.X

    申请日:2020-04-24

    Abstract: 即使不存在充分地具有与散射体有关的前提知识的专家也能够进行分析作业,易于进行分析的自动化。本申请发明的优选的一侧面是基于散射图案算出表示试样的空间构造的空间参数分布的装置,该散射图案是向试样入射与试样相互作用的粒子束并检测出其散射的结果而得到的、试样的空间构造向波数空间的投影。在该装置中,具有相互作用估计部,其对于散射图案上的信号,建立对应并估计其在散射的过程中与试样的空间参数分布上的哪个点进行了相互作用。此外,具有参数分布算出部,其汇聚相互作用估计部的估计结果,算出适合于所汇聚的结果的试样的空间参数分布。此外,具有空间参数高精度化计算部,其交替地多次进行相互作用估计部的估计和参数分布算出部的计算,提高空间参数分布的估计精度。该装置是特征在于构成为以上那样的粒子束计测结果分析装置。

    信息处理装置、信息处理方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN114332851B

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202111113105.4

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本发明提供一种能够简易地对映现在通过透射电子显微镜(TEM:Transmission Electron Microscope)而拍摄到的图像中的材料的结晶性进行判断的信息处理装置、信息处理方法以及记录介质。服务器(14)的取得部(142)取得通过透射电子显微镜而拍摄到的图像。接下来,变换部(144)针对所取得的图像的局部区域中的每一个,而对局部区域的图像执行二维傅立叶变换。聚类部(146)基于所得到的局部区域中的每一个的二维傅立叶变换的结果,而对从二维傅立叶变换的结果中得到的频率强度进行聚类。然后,判断部(148)基于聚类结果,而对图像中的结晶性不同的区域进行判断。

    稀土磁体及其制造方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108257754B

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201711326507.6

    申请日:2017-12-13

    Abstract: 本发明涉及稀土磁体及其制造方法。稀土磁体,其具备主相、存在于所述主相的周围的晶界相以及被夹在所述主相和所述晶界相之间的中间相,整体组成由((Ce(1‑x)Lax)(1‑y)R1y)pT(100‑p‑q‑r)BqM1r·(R21‑zM2z)s表示,Ce和La的合计浓度在所述主相中比在所述中间相中高,并且R2的浓度在所述中间相中比在所述主相中高。R1和R2为Ce和La以外的稀土元素,T为选自Fe、Ni和Co的一种以上,M1为不影响磁特性的少量元素,M2为使R21‑zM2z的熔点与R2的熔点相比降低的合金元素。

    稀土磁体及其制造方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109300640A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201811186197.7

    申请日:2014-06-05

    Abstract: 本发明涉及稀土磁体及其制造方法。本发明提供了减少Nd等的量、且磁各向异性优异的稀土磁体及其制造方法。稀土磁体具备晶粒,该晶粒具有(R2(1-x)R1x)yFe100-y-w-z-vCowBzTMv(此处,R2为Nd、Pr、Dy、Tb中的至少一种,R1为Ce、La、Gd、Y、Sc中的至少一种或两种以上的合金,TM为Ga、Al、Cu、Au、Ag、Zn、In、Mn中的至少一种,0<x<1,y=12~20,z=5.6~6.5,w=0~8,v=0~2)的整体组成,晶粒的平均粒径为1000nm以下,晶粒由芯部及其周围的外廓部构成,芯部具有R1多于R2的组成,外廓部具有R2多于R1的组成。

    显示控制装置、显示方法以及显示程序

    公开(公告)号:CN120045098A

    公开(公告)日:2025-05-27

    申请号:CN202411538391.2

    申请日:2024-10-31

    Abstract: 本发明涉及显示控制装置、显示方法以及显示程序。该显示控制装置包括处理器,该处理器构成为:使分析对象的数据的表示被可视化了的测定范围的数据图像、和上述分析对象的数据的表示被可视化了的分析范围的范围图像以上述被可视化了的测定范围与上述被可视化了的分析范围的方向一致的方式并列或者重叠显示于显示装置,并在分析范围中进行规定的分析。

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