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公开(公告)号：CN1072272A
公开(公告)日：1993-05-19
申请号：CN92104788.6
申请日：1992-06-19
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/00557
Abstract: 通过控制散布在介电基质(14)内之半导体微粒(13)的呈量子晶粒尺寸效应之晶态部分的直径获得(即使在室温下)高密度光信息记录，这种直径控制是利用微粒非晶态到晶态的相变来实现的。量子晶粒尺寸效应指介质的光学性质取决于晶态部分的直径。用这种记录介质可以实现各种记录、再生、和擦除信息的方法，本发明可用于其它光器件。
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