公开(公告)号：CN111433636B

公开(公告)日：2022-01-14

申请号：CN201880079233.1

申请日：2018-07-20

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 池田一树 ,  幕内雅巳 ,  村上真一 ,  门井凉 ,  永岛和治

IPC: G01W1/00 ,  G01N22/00 ,  G01R27/02 ,  G01V3/12

Abstract: 本发明提供一种更易于确定介质的技术，其中涉及一种介质传感器装置，其特征在于，具备：天线；存储部，其存储预先设定有与天线的阻抗相对应的介质的介质识别表；以及介质确定部，其确定天线的阻抗，并参照介质识别表来确定天线附近的介质。

公开(公告)号：CN111433636A

公开(公告)日：2020-07-17

申请号：CN201880079233.1

申请日：2018-07-20

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 池田一树 ,  幕内雅巳 ,  村上真一 ,  门井凉 ,  永岛和治

IPC: G01W1/00 ,  G01N22/00 ,  G01R27/02 ,  G01V3/12

Abstract: 本发明提供一种更易于确定介质的技术，其中涉及一种介质传感器装置，其特征在于，具备：天线；存储部，其存储预先设定有与天线的阻抗相对应的介质的介质识别表；以及介质确定部，其确定天线的阻抗，并参照介质识别表来确定天线附近的介质。