颗粒测量装置
    2.
    发明公开
    颗粒测量装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN114858665A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202111454335.7

    申请日:2021-12-01

    Abstract: 本发明提供一种颗粒测量装置,能够除去对颗粒进行摄像的观察窗上附着的颗粒,测量准确的粒度分布。本发明的对被测量流体中含有的颗粒进行图像识别来测量该颗粒的物理量的颗粒测量装置,其包括:保持含有颗粒的样品的样品保持区域;配置于样品保持区域的壁面的观察窗;和对观察窗喷出清洗液的清洗喷嘴,清洗液具有与被测量流体不同的组成。

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