公开(公告)号：CN113679372A

公开(公告)日：2021-11-23

申请号：CN202110237487.5

申请日：2021-03-03

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 池川彩夏 ,  泷泽将宏 ,  永尾尚子 ,  后藤智宏

IPC: A61B5/055

Abstract: 本发明提供磁共振成像装置以及其控制程序。防止配置于检查空间的被检者的位置、被检者的尺寸的差异所引起的定位图像的摄像失败，防止与此相伴的检查时间延长。在MRI装置的定位摄像以及正式摄像之前，自动执行用于合适地设定定位摄像的摄像位置的预扫描，使用该测量数据来检测被检者的检查部位所存在的区域(检查部位的扩展)。通过使用检测到的检查部位的扩展，能决定之后的摄像位置，或算出摄像中所用的扫描参数。

公开(公告)号：CN112637478A

公开(公告)日：2021-04-09

申请号：CN202010472767.X

申请日：2020-05-29

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 横泽俊 ,  白猪亨 ,  永尾尚子 ,  森分周子 ,  吴彬荣

IPC: H04N5/232 ,  G06T7/70 ,  A61B5/055

Abstract: 本发明提供一种磁共振成像装置和自动拍摄位置设定方法，针对解剖学的构造复杂的组织能够在短时间内进行高精度的自动定位。在取得诊断用图像的主拍摄之前，执行侦查拍摄的第一测量，取得一维或二维的测量数据，使用通过上述第一测量取得的测量数据，判定上述被检测体的左右，使用上述左右判定的判定结果和通过上述第一测量取得的测量数据，计算侦查拍摄的第二测量的剖面位置，在该剖面位置执行上述第二测量，取得二维的测量数据，使用通过上述第二测量取得的二维的测量数据计算上述主拍摄的剖面位置。

公开(公告)号：CN103596495B

公开(公告)日：2016-11-02

申请号：CN201280028603.1

申请日：2012-06-22

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 永尾尚子 ,  板垣博幸

IPC: A61B5/055

CPC classification number: G01R33/30 ,  A61B5/055 ,  A61B5/4566 ,  G01R33/4833 ,  G01R33/543

Abstract: 为了提供在具有多个检查断面的检查部位的摄像中，也能够不增大操作者的负担地最大限度发挥自动定位功能的效果的磁共振成像装置，当设定具备多个检查断面的检查部位的摄像位置时，首先进行在预先取得的扫描图图像上自动检测检查部位的全部检查断面的自动定位处理。在该扫描图图像上，在通过该自动定位处理检测出的位置显示叠层。