公开(公告)号：CN111811845A

公开(公告)日：2020-10-23

申请号：CN202010125127.1

申请日：2020-02-27

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 加藤哲司 ,  久保阳 ,  小岛启明 ,  岩路善尚 ,  上村卓也 ,  粕谷祥一 ,  高山直也 ,  松本淳

IPC: G01M99/00 ,  G01M13/00 ,  G01M13/045

Abstract: 本发明提供一种能够以高精度对诊断对象机器的劣化状态进行诊断的诊断装置。所述诊断装置具备：波形提取部(11)，从作为来自设置于诊断对象机器的传感器(9)、(10)的信号的测量波形，针对多个相位θ的每一个提取部分波形，所述部分波形为周期性地具有值的波形；峰检测部(13)，根据转换成频率区域的波谱的、针对多个相位θ的每一个的部分波形，检测部分波形的振幅相对于相位θ的变化的峰；以及诊断部(7)，基于峰的振幅值，对诊断对象机器的状态进行诊断。

公开(公告)号：CN111811845B

公开(公告)日：2022-06-21

申请号：CN202010125127.1

申请日：2020-02-27

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 加藤哲司 ,  久保阳 ,  小岛启明 ,  岩路善尚 ,  上村卓也 ,  粕谷祥一 ,  高山直也 ,  松本淳

IPC: G01M99/00 ,  G01M13/00 ,  G01M13/045

Abstract: 本发明提供一种能够以高精度对诊断对象机器的劣化状态进行诊断的诊断装置。所述诊断装置具备：波形提取部(11)，从作为来自设置于诊断对象机器的传感器(9)、(10)的信号的测量波形，针对多个相位θ的每一个提取部分波形，所述部分波形为周期性地具有值的波形；峰检测部(13)，根据转换成频率区域的波谱的、针对多个相位θ的每一个的部分波形，检测部分波形的振幅相对于相位θ的变化的峰；以及诊断部(7)，基于峰的振幅值，对诊断对象机器的状态进行诊断。