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公开(公告)号:CN102646723A
公开(公告)日:2012-08-22
申请号:CN201210023895.1
申请日:2012-02-03
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L29/872 , H01L29/06 , H02K11/00
CPC classification number: H01L29/872 , H01L24/01 , H01L29/0619 , H01L29/8611 , H01L2924/12036 , H01L2924/181 , H01L2924/351 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种能够提高可靠性的半导体装置、使用了该半导体装置的回转电机或使用了该半导体装置的车辆。为了解决上述的课题,本发明涉及的半导体装置中具备肖特基结和pn结,该半导体装置的特征在于,所述pn结设置在整流区域和护圈部,所述整流区域的pn结部的击穿电压比所述肖特基结及所述护圈部的pn结低。