公开(公告)号：CN117746928A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202310055772.4

申请日：2023-01-16

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 堀口丰 ,  吉田纪

IPC: G11B33/04 ,  G11B33/12

Abstract: 提供能够高效地对主机通知与盘装置的状态有关的信息的盘装置。根据本实施方式，提供具有第1连接器、第2连接器以及控制器的盘装置。第1连接器包括第1引脚。第1引脚被使用于发光元件的发光控制。第2连接器包括第2引脚。第2引脚接受数据。控制器能够经由第1引脚与主机进行预定信息的通信。

公开(公告)号：CN116778976A

公开(公告)日：2023-09-19

申请号：CN202210588435.7

申请日：2022-05-26

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 增山秀和 ,  吉田纪

IPC: G11B20/10 ,  G11B20/12

Abstract: 本发明提供能够适当地设定系统区域的磁盘装置。在磁盘装置具有的存储器中保存有第1设定信息和第2设定信息。第1设定信息表示第2磁道，该第2磁道是磁盘具有的多个第1磁道中的基于缺陷检查被设为了不使用的第1磁道。第2设定信息表示从与第2磁道不同的1个以上的第1磁道中选择出的第3磁道。在访问目的地为用户区域的情况下，控制器一边使第2磁道和第3磁道滑过，一边将逻辑地址信息变换为物理地址信息。在访问目的地为系统区域的情况下，控制器一边使多个第1磁道中的第3磁道以外的全部第1磁道滑过，一边将逻辑地址信息变换为物理地址信息。

公开(公告)号：CN115116480A

公开(公告)日：2022-09-27

申请号：CN202111004952.7

申请日：2021-08-30

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 吉田纪 ,  仁田达雄

IPC: G11B5/012 ,  G11B5/596

Abstract: 实施方式提供能够防止控制信息的保存的失衡的磁盘装置。实施方式的磁盘装置具备：多个磁盘；多个磁头，其与所述多个磁盘对应地设置，对所述磁盘进行数据的读/写；以及控制部，其对所述磁头的所述读/写进行控制。另外，所述多个磁盘分别具备第1保存部，所述第1保存部保存与所述磁头的所述读/写有关的控制信息。所述控制部将第1信息的保存目的地的所述第1保存部从所述磁盘切换为其他所述磁盘，所述第1信息是所述控制信息的至少一部分。

公开(公告)号：CN110289023B

公开(公告)日：2021-06-01

申请号：CN201810817113.9

申请日：2018-07-24

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 濑川诚 ,  多和田冬辉 ,  吉田纪

IPC: G11B20/18

Abstract: 实施方式提供能够减少介质扫描所需要的耗电并且能够提高缺陷检测精度的盘装置及介质扫描方法。实施方式的盘装置具备：盘；读取/写入单元，其对所述盘的记录区域进行数据的读取/写入处理；以及扫描单元，其进行以轨道为单位来检测所述盘的记录区域中的扇区有无缺陷的扫描处理。所述扫描单元具有跳过处理，所述跳过处理是在对排列于所述轨道的第1扇区、第2扇区、以及配置在所述第1扇区与所述第2扇区之间的第3扇区执行所述扫描处理时扫描所述第1扇区和所述第2扇区而不扫描所述第3扇区的处理。

公开(公告)号：CN110289023A

公开(公告)日：2019-09-27

申请号：CN201810817113.9

申请日：2018-07-24

Applicant: 株式会社 ,  东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 濑川诚 ,  多和田冬辉 ,  吉田纪

IPC: G11B20/18

Abstract: 实施方式提供能够减少介质扫描所需要的耗电并且能够提高缺陷检测精度的盘装置及介质扫描方法。实施方式的盘装置具备：盘；读取/写入单元，其对所述盘的记录区域进行数据的读取/写入处理；以及扫描单元，其进行以轨道为单位来检测所述盘的记录区域中的扇区有无缺陷的扫描处理。所述扫描单元具有跳过处理，所述跳过处理是在对排列于所述轨道的第1扇区、第2扇区、以及配置在所述第1扇区与所述第2扇区之间的第3扇区执行所述扫描处理时扫描所述第1扇区和所述第2扇区而不扫描所述第3扇区的处理。

公开(公告)号：CN106504779A

公开(公告)日：2017-03-15

申请号：CN201511000861.0

申请日：2015-12-28

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 吉田纪

IPC: G11B20/18

CPC classification number: G06F11/0727 ,  G11B20/1883

Abstract: 本发明涉及对记录介质上的缺陷进行管理的缺陷管理方法以及盘装置，盘装置具备非易失性的第1记录部、非易失性的第2记录部以及易失性半导体的第3记录部。在第2记录部存储包含与第1记录部的记录区域整体的缺陷相关的缺陷地址的缺陷信息和对将第1记录部的记录区域划分成多个而得到的各区段关联了缺陷信息的缺陷管理信息。另外，缺陷信息的至少一部分以及缺陷管理信息从第2记录部展开于第3记录部。控制部根据访问的请求，基于第1记录部的访问的对象地址和第3记录部的缺陷管理信息，确定包含对象地址的对象区段以及不包含对象地址的选择区段，将与这些对象区段以及选择区段关联的缺陷信息的一部分从第2记录部展开于第3记录部。