公开(公告)号：CN1316634C

公开(公告)日：2007-05-16

申请号：CN02140023.7

申请日：2002-09-29

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 池田光志 ,  铃木公平 ,  金野晃

IPC: H01L31/00 ,  H01L27/14 ,  A61B6/00 ,  G03B42/02

CPC classification number: H01L27/14659 ,  H01L27/14609 ,  H01L31/0296

Abstract: X光平面检测器，具有：通过入射的X射线进行感光产生信号电荷的X光感光膜；和连接在上述X光感光膜上的二维配置的多个像素电极；和为了于上述X光感光膜内产生的作为信号电荷的空穴和电子中，向上述的多个像素电极收集迁移率高的一方，而向上述X光感光膜施加偏置电压的偏置电压施加单元；和设置在每个上述的像素电极内，蓄积在上述X光感光膜上产生的电荷的多个电容器；和设置在每个上述的像素电极内，读取在上述电容器中蓄积的电荷的多个开关薄膜晶体管；和供给上述多个开关薄膜晶体管开关控制的控制信号的多条扫描线；和连接在上述多个开关薄膜晶体管上，在该开关薄膜晶体管关闭时读取上述电荷的多条信号线。

公开(公告)号：CN1438713A

公开(公告)日：2003-08-27

申请号：CN02140023.7

申请日：2002-09-29

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 池田光志 ,  铃木公平 ,  金野晃

IPC: H01L31/00 ,  H01L27/14 ,  A61B6/00 ,  G03B42/02

CPC classification number: H01L27/14659 ,  H01L27/14609 ,  H01L31/0296

Abstract: X光平面检测器，具有：通过入射的X射线进行感光产生信号电荷的X光感光膜；和连接在上述X光感光膜上的二维配置的多个像素电极；和为了于上述X光感光膜内产生的作为信号电荷的空穴和电子中，向上述的多个像素电极收集迁移率高的一方，而向上述X光感光膜施加偏置电压的偏置电压施加单元；和设置在每个上述的像素电极内，蓄积在上述X光感光膜上产生的电荷的多个电容器；和设置在每个上述的像素电极内，读取在上述电容器中蓄积的电荷的多个开关薄膜晶体管；和供给上述多个开关薄膜晶体管开关控制的控制信号的多条扫描线；和连接在上述多个开关薄膜晶体管上，在该开关薄膜晶体管关闭时读取上述电荷的多条信号线。