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公开(公告)号：CN102883777B
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201180018393.3
申请日：2011-02-07
Applicant: 株式会社东芝 , 独立行政法人放射线医学综合研究所
IPC: G21K5/04
CPC classification number: A61N5/1043 , A61N5/1071 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087 , G21K1/025
Abstract: 本发明提供了一种能够对每一粒子束流的剂量进行高可靠性测量并且能够对由瞬间粒子束流发射导致的泄露剂量进行高灵敏度测量的粒子束流照射装置。根据本发明的粒子束流照射装置包括：发射控制部分，其控制粒子束流的发射和终止；控制部分，其顺次改变相对于患区的粒子束流的照射位置；第一和第二放射量测定器，其测量被引导到患区的粒子束流的放射剂量率；以及异常确定部分，其累积在每一预定的确定时间段内从第一和第二放射量测定器输出的放射剂量率，以计算第一和第二部分剂量测量值，并且执行第二异常确定，所述第二异常确定在以下的至少一种情况下确定存在异常并且输出用于终止粒子束流的发射的互锁信号：第一部分剂量测量值超出预定的第一参考范围的情况，以及第二部分剂量测量值超出预定的第二参考范围的情况。
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公开(公告)号：CN118510577A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202380016103.4
申请日：2023-05-22
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝能源系统株式会社
Abstract: 根据实施方式，粒子线射束控制系统(1)具备控制扫描电磁铁(5、6)的控制计算机(11)，控制计算机(11)构成为基于由位置监视部(8)检测到的粒子线射束(P)的位置，计算粒子线射束(P)的实际的照射位置即重心位置，计算扫描电磁铁(5、6)的设计上的照射位置即光斑位置与重心位置的偏移量，基于偏移量来计算用于将重心位置校正为定光斑位置的校正值，将校正值存储于存储部(18)，基于存储于存储部(18)的校正值，校正从电源(12、13)向扫描电磁铁(5、6)供给电力时的成为设计上的基准的电流值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102883777A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201180018393.3
申请日：2011-02-07
Applicant: 株式会社东芝 , 独立行政法人放射线医学综合研究所
CPC classification number: A61N5/1043 , A61N5/1071 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087 , G21K1/025
Abstract: 本发明提供了一种能够对每一粒子束流的剂量进行高可靠性测量并且能够对由瞬间粒子束流发射导致的泄露剂量进行高灵敏度测量的粒子束流照射装置。根据本发明的粒子束流照射装置包括：发射控制部分，其控制粒子束流的发射和终止；控制部分，其顺次改变相对于患区的粒子束流的照射位置；第一和第二放射量测定器，其测量被引导到患区的粒子束流的放射剂量率；以及异常确定部分，其累积在每一预定的确定时间段内从第一和第二放射量测定器输出的放射剂量率，以计算第一和第二部分剂量测量值，并且执行第二异常确定，所述第二异常确定在以下的至少一种情况下确定存在异常并且输出用于终止粒子束流的发射的互锁信号：第一部分剂量测量值超出预定的第一参考范围的情况，以及第二部分剂量测量值超出预定的第二参考范围的情况。
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公开(公告)号：CN102858407A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201180018380.6
申请日：2011-02-07
Applicant: 株式会社东芝 , 独立行政法人放射线医学综合研究所
CPC classification number: A61N5/10 , A61N5/1043 , A61N5/1075 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087 , G01T1/2935
Abstract: 本发明提供一种粒子束流照射装置，其能够用简单的结构在扫描期间测量并显示剂量的二维分布，同时减少粒子束流形状的劣化。根据本发明的所述粒子束流照射装置包括：束流产生部分，其产生粒子束流；束流发射控制部分，其控制所述粒子束流的发射；束流扫描部分，其二维地扫描所述粒子束流；传感器部分，其包括多个在第一方向上平行布置的第一线电极和多个在垂直于所述第一方向的第二方向上平行布置的第二线电极；束流形状计算部分，其根据从每个所述第一线电极输出的第一信号和从每个所述第二线电极输出的第二信号计算粒子束流的重心，并且得到所述重心周围的所述粒子束流的二维束流形状；存储部分，其累积并存储所述二维束流形状；以及显示部分，其显示所述二维束流形状，作为剂量的二维分布。
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公开(公告)号：CN102858407B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201180018380.6
申请日：2011-02-07
Applicant: 株式会社东芝 , 国立研究开发法人放射线医学综合研究所
CPC classification number: A61N5/10 , A61N5/1043 , A61N5/1075 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087 , G01T1/2935
Abstract: 本发明提供一种粒子束流照射装置，其能够用简单的结构在扫描期间测量并显示剂量的二维分布，同时减少粒子束流形状的劣化。根据本发明的所述粒子束流照射装置包括：束流产生部分，其产生粒子束流；束流发射控制部分，其控制所述粒子束流的发射；束流扫描部分，其二维地扫描所述粒子束流；传感器部分，其包括多个在第一方向上平行布置的第一线电极和多个在垂直于所述第一方向的第二方向上平行布置的第二线电极；束流形状计算部分，其根据从每个所述第一线电极输出的第一信号和从每个所述第二线电极输出的第二信号计算粒子束流的重心，并且得到所述重心周围的所述粒子束流的二维束流形状；存储部分，其累积并存储所述二维束流形状；以及显示部分，其显示所述二维束流形状，作为剂量的二维分布。
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公开(公告)号：CN102000398B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201010271493.4
申请日：2010-09-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1048 , A61N5/1043 , A61N2005/1056 , A61N2005/1087
Abstract: 根据本发明的粒子束辐射装置包括：束生成单元；束发射控制单元，其控制粒子束发射；束扫描指示单元，对于通过在粒子束轴线方向上划分将要辐射的患病区域所获得的切片中的每个，束扫描指示单元连续二维指示粒子束位置；束扫描单元，其基于来自束扫描指示单元的指示信号二维扫描粒子束；荧光体膜，其提供在束扫描单元和患者之间，并且以对应于透射经过其的粒子束的粒子剂量的量来发光；成像单元，其对于切片中的每个，对荧光体膜成像；以及显示单元，其从由成像单元所成像的图像数据中获得切片中的每个的辐射剂量分布，并且显示所获得的与粒子束扫描位置相关的辐射剂量分布。
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公开(公告)号：CN102000398A
公开(公告)日：2011-04-06
申请号：CN201010271493.4
申请日：2010-09-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1048 , A61N5/1043 , A61N2005/1056 , A61N2005/1087
Abstract: 根据本发明的粒子束辐射装置包括：束生成单元；束发射控制单元，其控制粒子束发射；束扫描指示单元，对于通过在粒子束轴线方向上划分将要辐射的患病区域所获得的切片中的每个，束扫描指示单元连续二维指示粒子束位置；束扫描单元，其基于来自束扫描指示单元的指示信号二维扫描粒子束；荧光体膜，其提供在束扫描单元和患者之间，并且以对应于透射经过其的粒子束的粒子剂量的量来发光；成像单元，其对于切片中的每个，对荧光体膜成像；以及显示单元，其从由成像单元所成像的图像数据中获得切片中的每个的辐射剂量分布，并且显示所获得的与粒子束扫描位置相关的辐射剂量分布。
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