-
公开(公告)号:CN106716661B
公开(公告)日:2019-07-09
申请号:CN201580045837.0
申请日:2015-11-17
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L43/08 , H01F10/16 , H01F10/30 , H01F10/32 , H01L21/8246 , H01L27/105 , H01L43/10
CPC classification number: H01L43/02 , H01F10/16 , H01F10/30 , H01F10/32 , H01L27/105 , H01L27/228 , H01L43/08 , H01L43/10 , H01L43/12
Abstract: 提供即使将存储层薄膜化,也能降低底基层中所含元素的扩散的影响的磁阻元件和磁存储器。根据本实施方案的磁阻元件具备:包含Ni和Co中的至少一种元素及Al的具有CsCl结构的第1层、第1磁性层、所述第1层和所述第1磁性层之间的第1非磁性层、以及所述第1层和所述第1非磁性层之间的包含Mn和Ga的第2磁性层。
-
公开(公告)号:CN107689416A
公开(公告)日:2018-02-13
申请号:CN201710109879.7
申请日:2017-02-28
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 本发明涉及磁存储器。提供一种改善了写入效率的SOT写入方式的磁存储器。根据本实施方案的磁存储器具备:第1至第3端子;导电性的第1非磁性层,具有第1至第3部分,所述第1部分位于所述第2部分与所述第3部分之间,所述第2部分与所述第1端子电连接,所述第3部分与所述第2端子电连接;第1磁阻元件,具有与所述第3端子电连接的第1磁性层、配置在所述第1磁性层与所述第1部分之间的第2磁性层、以及配置在所述第1磁性层与所述第2磁性层之间的第2非磁性层;和第1层,至少配置在所述第1部分与所述第2磁性层之间,包含Mg、Al、Si、Hf和稀土元素中的至少一种元素、以及氧和氮中的至少一种元素。
-
公开(公告)号:CN107078210A
公开(公告)日:2017-08-18
申请号:CN201580045843.6
申请日:2015-11-12
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L43/08 , H01L21/8246 , H01L27/105 , H01L43/10
Abstract: 本实施方案提供能降低漏磁场的磁阻效应元件和使用其的磁存储器。根据本实施方案的磁阻元件具备第1磁性层、第2磁性层以及设置于所述第1磁性层和所述第2磁性层之间的第1非磁性层,所述第2磁性层具备包含选自由Mn、Fe、Co和Ni组成的第1组的至少一种元素、选自由Ru、Rh、Pd、Ag、Os、Ir、Pt和Au组成的第2组的至少一种元素、以及选自由Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb和Lu组成的第3组的至少一种元素的磁性体。
-
公开(公告)号:CN106716661A
公开(公告)日:2017-05-24
申请号:CN201580045837.0
申请日:2015-11-17
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L43/08 , H01F10/16 , H01F10/30 , H01F10/32 , H01L21/8246 , H01L27/105 , H01L43/10
CPC classification number: H01L43/02 , H01F10/16 , H01F10/30 , H01F10/32 , H01L27/105 , H01L27/228 , H01L43/08 , H01L43/10 , H01L43/12
Abstract: 提供即使将存储层薄膜化,也能降低底基层中所含元素的扩散的影响的磁阻元件和磁存储器。根据本实施方案的磁阻元件具备:包含Ni和Co中的至少一种元素及Al的具有CsCl结构的第1层、第1磁性层、所述第1层和所述第1磁性层之间的第1非磁性层、以及所述第1层和所述第1非磁性层之间的包含Mn和Ga的第2磁性层。
-
-
-