公开(公告)号：CN117501076A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202280043386.7

申请日：2022-06-13

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 川崎贵志 ,  藤井秀彦 ,  长泽仁

IPC: G01J5/48

Abstract: 表面温度测定装置具备：辐射温度计(11)，通过传感器检测从确定的测定范围的物体表面辐射的红外线来测定物体的表面温度，该辐射温度计测定比测定对象物(100)的测定对象区域大的测定范围的表面温度(Tm)；第二温度测定单元(11)，测定虽然在辐射温度计(11)中的表面温度(Tm)的测定范围内但为测定对象物(100)的测定对象区域外的区域或者具有与测定对象区域外的区域相同或大致相同的温度的区域的表面温度(Tn)；以及校正单元(12)，通过测定出的表面温度(Tn)将测定出的表面温度(Tm)校正为测定对象物(100)的表面温度(T)。

公开(公告)号：CN110678722A

公开(公告)日：2020-01-10

申请号：CN201880035080.0

申请日：2018-04-24

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 川崎贵志 ,  藤井秀彦 ,  鹤谷克敏

IPC: G01J3/10 ,  G01N21/27

Abstract: 本发明提供一种分光光度计，不必在分光光度计的内部设置较大的空间，能够向被测量位置照射观察光，并且能够容易地知道被测量位置。在分光光度计中，在与被测量位置光学上共轭的位置配置狭缝。来自被测量物体的光通过狭缝，在测量光路上行进，通过波长色散元件进行波长色散。在测量光谱时，使观察光源向测量光路外退避。在观察被测量位置时，观察光源插入测量光路内，向狭缝发出观察光。或者，来自被测量物体的光通过狭缝，通过衍射光栅进行衍射。观察光源配置在0阶光的光路上。在观察被测量位置时，观察光源向衍射光栅发出观察光。