公开(公告)号：CN117475192A

公开(公告)日：2024-01-30

申请号：CN202310914725.0

申请日：2023-07-25

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 相马祥人

IPC: G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/09

Abstract: 提供监督式机器学习用的训练图像数据生成系统和生成方法及记录介质，可容易地生成用于使用监督式机器学习进行缺陷分类的训练图像数据。训练图像数据生成系统具备数据生成单元，数据生成单元将从保持将缺陷的形状和光学特性进行模型化得到的缺陷模型的存储部任意选择的缺陷模型和从保持将被检面的形状和光学特性进行模型化得到的被检面模型的存储部任意选择的被检面模型，配置到利用照明光学系统、摄像光学系统、由多个像素构成的摄像传感器被模型化的光线追踪仿真软件进行光线追踪的任意的空间，追踪多个光线，基于入射到像素的光线的强度和条数来计算各像素中的照度，并根据该照度来生成作为训练图像数据的虚拟摄像图像数据。

公开(公告)号：CN118414540A

公开(公告)日：2024-07-30

申请号：CN202280083390.6

申请日：2022-12-09

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 相马祥人

IPC: G01N21/88

Abstract: 表面检查装置(3)具备：图像取得单元(31)，取得在使对工件(100)的涂装表面的被检查部位进行照明的照明装置(1)的明暗图案相对于工件(100)相对地移动的状态下由摄像装置(2)摄像的关于被检查部位的多个图像；运算单元(32)，关于取得的多个图像，计算表示表面缺陷的特征量；推测单元(33)，利用计算的特征量的变化，推测成为表面缺陷的原因的异物从涂装表面起的深度。

公开(公告)号：CN114450711A

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN201980100819.6

申请日：2019-10-02

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 矢桥晓 ,  相马祥人 ,  脇村泰三 ,  吉田龙一 ,  植木章太

IPC: G06T7/00

Abstract: 提供能够高精度地稳定地检测小的表面缺陷的工件的表面缺陷检测装置等。在使由照明装置引起的明暗图案相对于作为表面缺陷的检测对象的工件而相对地移动的状态下，取得关于所述工件的被测定部位的多个图像，提取暂定缺陷候补。如果在提取了暂定缺陷候补的多个图像中包括暂定缺陷候补的图像的数量存在预先设定的阈值以上，则将暂定缺陷候补决定为缺陷候补。合成包括所决定的缺陷候补的多个图像来制作合成图像，根据所制作的合成图像来进行缺陷检测。

公开(公告)号：CN114450711B

公开(公告)日：2025-04-29

申请号：CN201980100819.6

申请日：2019-10-02

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 矢桥晓 ,  相马祥人 ,  脇村泰三 ,  吉田龙一 ,  植木章太

IPC: G06T7/00

Abstract: 提供能够高精度地稳定地检测小的表面缺陷的工件的表面缺陷检测装置等。在使由照明装置引起的明暗图案相对于作为表面缺陷的检测对象的工件而相对地移动的状态下，取得关于所述工件的被测定部位的多个图像，提取暂定缺陷候补。如果在提取了暂定缺陷候补的多个图像中包括暂定缺陷候补的图像的数量存在预先设定的阈值以上，则将暂定缺陷候补决定为缺陷候补。合成包括所决定的缺陷候补的多个图像来制作合成图像，根据所制作的合成图像来进行缺陷检测。