滤波器阵列及光检测系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115461656A

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202180031029.4

    申请日:2021-04-19

    Abstract: 滤波器阵列具备二维地排列且分别具有互不相同的透射光谱的多个滤波器。上述多个滤波器包括:第1滤波器,透射光谱具有包括相互相邻的第1峰值及第2峰值的第1峰值群;以及至少1个第2滤波器,透射光谱具有包括相互相邻的第3峰值及第4峰值的第2峰值群,在上述第2峰值群中包含的多个峰值中,上述第3峰值的波长最接近于上述第1峰值的波长。上述第1峰值的上述波长与上述第2峰值的波长的第1间隔不同于上述第3峰值的上述波长与上述第4峰值的波长的第2间隔。当设上述第1间隔与上述第2间隔之差的绝对值为ΔFSR,设上述第1峰值的半值宽度为σ时,ΔFSR/σ≥0.25。

    激光装置
    4.
    发明公开
    激光装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN119301828A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202380043994.2

    申请日:2023-05-26

    Abstract: 激光装置(100)具备:第一光梳激光器(10);第二光梳激光器(20),重复频率与第一光梳激光器(10)的重复频率不同;检测部(70),检测由来自第一光梳激光器(10)的输出光和来自第二光梳激光器(20)的输出光形成的干涉光;以及控制电路(90)。控制电路(90)基于检测部(70)的输出来控制作为第一光梳激光器(10)的载波包络偏移频率的第一CEO频率、以及作为第二光梳激光器(20)的载波包络偏移频率的第二CEO频率中的至少一方,从而使作为第一CEO频率与第二CEO频率之差的差频变化。

    计测装置
    5.
    发明公开
    计测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN119213330A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202380038545.9

    申请日:2023-02-02

    Abstract: 计测装置具备:光源,射出光;干涉光学系统,将从上述光源射出的上述光分离为参照光和用来照射物体的照射光,并且使上述照射光被上述物体反射而产生的反射光与上述参照光干涉而生成干涉光;输出纤维,与上述干涉光学系统连接,对上述照射光进行导波;光学元件,与上述输出纤维连接,射出上述照射光;第1壳体,收容上述光源及上述干涉光学系统;以及第2壳体,收容上述第1壳体;上述输出纤维从上述第1壳体直接引出。

    计测装置及程序
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117280176A

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202280033200.X

    申请日:2022-02-02

    Abstract: 计测装置具备:光源,能够出射用于照射移动体的激光,且使所述激光的频率变化;干涉光学系统,将所述激光分离为参照光和输出光,使从所述输出光得到的至少1个光束被所述移动体反射而产生的至少1个反射光束与所述参照光干涉来生成干涉光;光检测器,检测所述干涉光;以及处理电路,对从所述光检测器输出的信号进行处理,所述处理电路基于对所述信号进行处理而得到的所述移动体的计测数据,生成与所述移动体相关的多个属性数据并输出。

    滤波器阵列及光检测系统
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115668008A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202180036101.2

    申请日:2021-05-10

    Abstract: 滤波器阵列是在生成与特定的波长域中包含的N个(N是2以上的整数)波段的每个波段对应的图像数据的光检测装置中使用的滤波器阵列,具备多个光学滤波器。上述多个光学滤波器包括关于上述N个波段的每个波段的光透射率互不相同的多种光学滤波器。当设关于具有上述N个波段中的第i波段(i是1以上N以下的整数)中包含的波长的光的上述多个光学滤波器的光透射率的平均值为μi,设关于具有上述第i波段中包含的波长的上述光的上述多个光学滤波器的上述光透射率的标准偏差为σi,设Mi=μi‑σi时,关于上述N个波段的每个波段,Mi≥0.1。

    计测装置
    8.
    发明公开
    计测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118525220A

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202280088238.7

    申请日:2022-11-09

    Abstract: 计测装置具备:光源;干涉光学系统,使来自所述光源的光分离为参照光和照射光,并使所述照射光被物体反射而产生的反射光与所述参照光干涉来生成干涉光;光学元件,出射所述照射光,而且接受所述反射光;以及光检测器,对所述干涉光进行检测,所述干涉光学系统具备分光器,该分光器输入来自所述光源的所述光,而且输出所述参照光及所述照射光,在将从所述分光器到所述光检测器为止的光路长度设为d1,将从所述分光器到所述光学元件为止的光路长度设为d2,将从所述光学元件到所述光检测器为止的光路长度设为d3,并将从所述分光器经过所述干涉光学系统的内部的噪声光路径并到达所述光检测器为止的光路长度设为d4时,满足d1≤d2+d3而且|d2+d3‑d1|≥|d4‑d1|的关系。

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