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公开(公告)号：CN1293431A
公开(公告)日：2001-05-02
申请号：CN00129760.0
申请日：2000-10-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B23/281 , G11B7/0037 , G11B7/005 , G11B7/007 , G11B7/013 , G11B7/24 , G11B20/00086 , G11B20/00586 , G11B20/00594
Abstract: 一种光盘,提供以凹—凸坑的形式记录按预定的调制方法调制的信号数据,所述光盘包含具有部分去除反射膜的第一区域和具有与满足预定调制方法要求的坑不同的坑的第二区域,第一区域包含由去除反射膜形成的部分其长度大于在光盘的圆周方向由调制方法确定的最大坑长,在光盘的坑受到复制时可利用对于光盘与盗版光盘在第一和第二区域各自再现信号的结合上的不同来阻止光盘的复制。
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公开(公告)号：CN1297959C
公开(公告)日：2007-01-31
申请号：CN200410048429.4
申请日：2000-10-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 一种光盘，提供以凹-凸坑的形式记录按预定的调制方法调制的信号数据，所述光盘包含具有部分去除反射膜的第一区域和具有与满足预定调制方法要求的坑不同的坑的第二区域，第一区域包含由去除反射膜形成的部分其长度大于在光盘的圆周方向由调制方法确定的最大坑长，在光盘的坑受到复制时可利用对于光盘与盗版光盘在第一和第二区域各自再现信号的结合上的不同来阻止光盘的复制。
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公开(公告)号：CN1551129A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：CN200410048428.X
申请日：2000-10-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B23/281 , G11B7/0037 , G11B7/005 , G11B7/007 , G11B7/013 , G11B7/24 , G11B20/00086 , G11B20/00586 , G11B20/00594
Abstract: 一种光盘，提供以凹—凸坑的形式记录按预定的调制方法调制的信号数据，所述光盘包含具有部分去除反射膜的第一区域和具有与满足预定调制方法要求的坑不同的坑的第二区域，第一区域包含由去除反射膜形成的部分其长度大于在光盘的圆周方向由调制方法确定的最大坑长，在光盘的坑受到复制时可利用对于光盘与盗版光盘在第一和第二区域各自再现信号的结合上的不同来阻止光盘的复制。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101536096B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200780042505.2
申请日：2007-11-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0906 , G11B7/0956
Abstract: 一种用于光学信息再现装置的跟踪装置包括下列部件：光电检测器(1)，其中会聚在记录介质上的光点的远场图案形成在整个被划分的光接收单元上；运算单元(2)，用于由所述光电检测器(1)的所述输出中输出至少一对运算信号；相位比较器(4)，用于检测所述运算单元(2)的输出信号之间的相位差；绝对值检测器(8)，用于检测所述相位比较器(4)的所述输出信号的绝对值；电平检测器(9)，用于通过对所述绝对值检测器(8)的所述输出信号变得大于预定值检测预定次数或者更多次来生成表示所述光点的会聚位置是否偏离信息轨道的信号；灵敏度检测器(10)，用于通过观测所述电平检测器(9)的所述输出信号来检测并输出所述电平检测器(9)的所述灵敏度；以及控制器(11)，用于调整所述电平检测器(9)的所述检测条件，使得所述灵敏度检测器(10)的所述输出为预定值。
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公开(公告)号：CN1189884C
公开(公告)日：2005-02-16
申请号：CN00129760.0
申请日：2000-10-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B23/281 , G11B7/0037 , G11B7/005 , G11B7/007 , G11B7/013 , G11B7/24 , G11B20/00086 , G11B20/00586 , G11B20/00594
Abstract: 一种再现记录在光盘上的信息的方法和装置，所述光盘包含第一区域；第二区域，用于记录凹-凸形的长坑，每个所述长坑在周边方向上的长度大于满足所述预定调制方法的坑的最大长度；第一区域位置信息记录区和第二区域位置信息记录区，所述方法包括：按照在第一区域位置信息记录区内记录的光盘上的第一区域的所述位置信息再现记录在第一区域内的信息，并输出所述第一区域的再现信号；按照在第二区域位置信息记录区内记录的光盘上的第二区域的位置信息再现记录在第二区域内的信息；按照第一区域的再现信号探测具有部分去除反射膜的区域；按照第二区域的再现信号探测具有所述凹-凸形的长坑的另外的区域；按照由二个探测步骤探测的结果，判断是否应该再现记录在光盘上的信息，其中再现记录在所述第一区域内的信息的步骤包括，以离焦状态再现记录在所述第一区域内的信息的步骤。
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公开(公告)号：CN101536096A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200780042505.2
申请日：2007-11-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0906 , G11B7/0956
Abstract: 一种用于光学信息再现装置的跟踪装置包括下列部件：光电检测器(1)，其中会聚在记录介质上的光点的远场图案形成在整个被划分的光接收单元上；运算单元(2)，用于由所述光电检测器(1)的所述输出中输出至少一对运算信号；相位比较器(4)，用于检测所述运算单元(2)的输出信号之间的相位差；绝对值检测器(8)，用于检测所述相位比较器(4)的所述输出信号的绝对值；电平检测器(9)，用于通过对所述绝对值检测器(8)的所述输出信号变得大于预定值检测预定次数或者更多次来生成表示所述光点的会聚位置是否偏离信息轨道的信号；灵敏度检测器(10)，用于通过观测所述电平检测器(9)的所述输出信号来检测并输出所述电平检测器(9)的所述灵敏度；以及控制器(11)，用于调整所述电平检测器(9)的所述检测条件，使得所述灵敏度检测器(10)的所述输出为预定值。
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公开(公告)号：CN1249682C
公开(公告)日：2006-04-05
申请号：CN200410048428.X
申请日：2000-10-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B23/281 , G11B7/0037 , G11B7/005 , G11B7/007 , G11B7/013 , G11B7/24 , G11B20/00086 , G11B20/00586 , G11B20/00594
Abstract: 一种再现记录在光盘上的信息的方法，所述光盘包含：(a)具有部分去除反射膜的区域，形成所述区域以延伸越过至少多个轨道，从而所述部分去除的反射膜的纵向平行于所述光盘的径向；和(b)用于记录所述光盘上的所述区域的位置信息的区域位置信息记录区，所述方法包括下述步骤：按照在所述的区域位置信息记录区内记录的所述光盘上的所述区域的所述位置信息，再现记录在所述区域内的信息，并输出所述区域的再现信息；按照所述区域的所述再现信号，探测具有部分去除反射膜的区域；当所述位置信息与所述探测步骤探测的结果相一致时，再现记录在所述光盘中的信息，并且当所述位置信息与所述探测步骤探测的结果不相一致时，停止再现记录在所述光盘中的信息，其中再现记录在所述区域内的信息的步骤包括，以离焦状态再现记录在所述区域内的信息的步骤。
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公开(公告)号：CN1551130A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：CN200410048429.4
申请日：2000-10-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B23/281 , G11B7/0037 , G11B7/005 , G11B7/007 , G11B7/013 , G11B7/24 , G11B20/00086 , G11B20/00586 , G11B20/00594
Abstract: 一种光盘，提供以凹—凸坑的形式记录按预定的调制方法调制的信号数据，所述光盘包含具有部分去除反射膜的第一区域和具有与满足预定调制方法要求的坑不同的坑的第二区域，第一区域包含由去除反射膜形成的部分其长度大于在光盘的圆周方向由调制方法确定的最大坑长，在光盘的坑受到复制时可利用对于光盘与盗版光盘在第一和第二区域各自再现信号的结合上的不同来阻止光盘的复制。
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