具备AD变换器的温度检测电路及半导体集成电路

    公开(公告)号:CN102474263A

    公开(公告)日:2012-05-23

    申请号:CN201080036311.3

    申请日:2010-12-14

    Inventor: 渡边学 伊藤稔

    CPC classification number: H03M1/002 H03M1/42

    Abstract: 本发明提供一种具备AD变换器的温度检测电路及半导体集成电路。在具备AD变换器的温度检测电路中,在动作开始时暂时使逐次比较型AD变换器(1)动作,由所述AD变换器(1)对来自电压产生电路(BGR1)的具有温度依存性的模拟电压进行AD变换,来确定该数字信号的全部比特。然后,电力控制电路(2)只检测输入了夹着所述模拟电压的电位的上下相邻的基准电压的比较器的输出变化,切断输入了夹着所述模拟电压的电位的上下相邻的基准电压的比较器以外的比较器的电源供给。因此,即便在利用所述AD变换器来检测如具有温度依存性的模拟电压那样恒定且变化慢的信号的情况下,也能使AD变换器的分辨率不劣化、降低消耗电力且缩短信号处理时间。

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