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公开(公告)号：CN1409303A
公开(公告)日：2003-04-09
申请号：CN02143463.8
申请日：2002-04-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1816 , G11B7/00375 , G11B7/00736 , G11B7/268 , G11B20/00086 , G11B20/00173 , G11B20/00579 , G11B20/00586 , G11B20/00594 , G11B20/00927 , G11B20/00963 , G11B2220/2562
Abstract: 通过光学方式对光盘上的多个光道进行读取处理，获得包括多个LOW区间的读取信号。这些多个LOW区间与相应的证明凹痕相对应。如果任意的LOW区间Xj，与相对该LOW区间，头n个LOW区间Xj+n之间的间距超过光道一周的长度，则判定可与证明凹痕相混同的缺陷凹痕，混入多个证明凹痕之间。
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公开(公告)号：CN1222935C
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN01121260.8
申请日：2001-04-12
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/00594 , G11B7/007 , G11B7/24085 , G11B20/00086 , G11B20/00586
Abstract: 一种具有照射YAG激光的加工部分的光盘，在光盘的加工部分以外的区域上形成具有3T～14T(T为0.133μm)的连续长的凹凸坑列。在所述加工部分上，是具有长度X连续长的凹坑，或具有长度X连续长的凹凸坑列，包括在凸坑上反射膜不存在的第一凹凸坑列。表示这些凹坑、第一凹凸坑列的位置和长度的物理特征信息被记录在特定区域上。
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公开(公告)号：CN1251195C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN02143463.8
申请日：2002-04-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1816 , G11B7/00375 , G11B7/00736 , G11B7/268 , G11B20/00086 , G11B20/00173 , G11B20/00579 , G11B20/00586 , G11B20/00594 , G11B20/00927 , G11B20/00963 , G11B2220/2562
Abstract: 通过光学方式对光盘上的多个光道进行读取处理，获得包括多个LOW区间的读取信号。这些多个LOW区间与相应的证明凹痕相对应。如果任意的LOW区间Xj，与从该LOW区间开始，前n个LOW区间Xj+n之间的间距超过光道一周的长度，则判定：可与证明凹痕相混同的缺陷凹痕混入到多个证明凹痕之间。
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公开(公告)号：CN1336640A
公开(公告)日：2002-02-20
申请号：CN01121260.8
申请日：2001-04-12
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/00594 , G11B7/007 , G11B7/24085 , G11B20/00086 , G11B20/00586
Abstract: 一种具有照射YAG激光的加工部分的光盘,在光盘的加工部分以外的区域上形成具有3T～14T(T为0.133μm)的连续长的凹凸坑列。在所述加工部分上,是具有长度X连续长的凹坑,或具有长度X连续长的凹凸坑列,包括在凸坑上反射膜不存在的第一凹凸坑列。表示这些凹坑、第一凹凸坑列的位置和长度的物理特征信息被记录在特定区域上。
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