公开(公告)号：CN102759507A

公开(公告)日：2012-10-31

申请号：CN201210031490.2

申请日：2012-02-13

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 壁谷泰宏 ,  古田宽和 ,  八木晴久

IPC: G01N21/17

Abstract: 本发明提供一种放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置，目的在于能够在不将被检物加热至高温的情况下测定被检物的放射率。本发明提供的放射率测定方法包括：红外光照射步骤，对被检物照射第一放射能的红外光；测定步骤，根据来自照射了所述红外光的所述被检物的反射红外光测定第二放射能；以及计算步骤，基于所述第一放射能与所述第二放射能计算所述被检物的放射率。

公开(公告)号：CN102047333B

公开(公告)日：2014-07-30

申请号：CN200980119945.2

申请日：2009-08-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 梶野修 ,  和田秀彦 ,  八木晴久

IPC: G11B7/0037 ,  G11B7/126

CPC classification number: G11B7/126 ,  G11B7/0037

Abstract: 本发明提供一种光学信息再生装置、光学信息再生装置的信息再生方法、程序以及记录介质。由于叠加了高频电流的激光器驱动电流，会产生再生光劣化。本发明例如是向光盘(1)照射激光来进行信息的读取的光学信息再生装置，具备：产生激光的半导体激光器(6)；向半导体激光器(6)提供叠加了高频电流的驱动电流的激光器驱动部(7)；驱动光盘(1)的主轴电动机(2)；以及控制激光器驱动部(7)和主轴电动机(2)的控制部(5)；控制部(5)基于成为高频电流的叠加对象的电流的大小，决定高频电流的参数。

公开(公告)号：CN102047333A

公开(公告)日：2011-05-04

申请号：CN200980119945.2

申请日：2009-08-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 梶野修 ,  和田秀彦 ,  八木晴久

IPC: G11B7/125

CPC classification number: G11B7/126 ,  G11B7/0037

Abstract: 本发明提供一种光学信息再生装置、光学信息再生装置的信息再生方法、程序以及记录介质。由于叠加了高频电流的激光器驱动电流，会产生再生光劣化。本发明例如是向光盘(1)照射激光来进行信息的读取的光学信息再生装置，具备：产生激光的半导体激光器(6)；向半导体激光器(6)提供叠加了高频电流的驱动电流的激光器驱动部(7)；驱动光盘(1)的主轴电动机(2)；以及控制激光器驱动部(7)和主轴电动机(2)的控制部(5)；控制部(5)基于成为高频电流的叠加对象的电流的大小，决定高频电流的参数。