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公开(公告)号：CN100351913C
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200310102529.6
申请日：2003-10-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0906
Abstract: 一种光盘装置，包括：在所装填的光盘上照射光的光学系统；由多个区域接收来自光盘的反射光、生成与各区域的接收光量对应的多个再生信号的光检测器；接收多个再生信号、输出将各再生信号频率成份中根据记号的长度确定的频率成份降低后的多个处理信号的滤波器；检测多个处理信号的相位差的相位差检测部；根据相位差生成表示光盘上的光的照射位置与轨迹之间的位置关系的跟踪误差信号的信号生成部；以及根据所述跟踪误差信号生成控制信号的控制部，根据所述控制信号，在所述光盘上的横截所述轨迹的方向上控制所述光的照射位置。从而，即使光盘上的记号尺寸变小的情况下也可以生成高精度的跟踪误差(TE)信号，实现高精度的跟踪控制。
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公开(公告)号：CN1076813A
公开(公告)日：1993-09-29
申请号：CN93102689.X
申请日：1993-02-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H02P6/02
Abstract: 无刷直流电动机包括多极转子；相对转子布置在气隙的多相定子绕组；根据转子旋转产生表示转子转态的多相传感器信号的传感器；从传感器信号检测转子转向发出方向信号的方向检测器；根据方向信号发出第一相位信号产生对应转子位置的初始计数值的初始相位检测器；赋以相对初始计数值的初始值，根据传感器信号和方向信号增减计数值发出第二相位信号的计数器；根据第一或第二相位信号产生多相位置信号的波形发生器，根据位置信号给定子绕组供电的电源。
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公开(公告)号：CN100342434C
公开(公告)日：2007-10-10
申请号：CN200380101193.X
申请日：2003-10-08
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/085
CPC classification number: G11B7/08517 , G11B7/0053 , G11B7/0953
Abstract: 本发明的课题在于，提供能够稳定地进行跟踪导入的光盘的跟踪控制装置，该装置配备：从光点检测跟踪误差信号和摆动信号的信号检测部；检测光点与轨道的相对的移动速度的速度检测部；在跟踪误差信号的零交叉点附近，当摆动信号振幅值在规定值以下时，判定为光点位置位于槽间盘面的极性判定部；当移动速度在规定范围内，通过极性判定判定为槽间盘面时，从跟踪误差信号的增减方向检测光点对轨道的移动方向的移动方向检测部；以及根据移动速度和移动方向，降低移动速度，导入跟踪的控制部。
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公开(公告)号：CN1225731C
公开(公告)日：2005-11-02
申请号：CN01802953.1
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0938 , G11B7/0901 , G11B7/0904
Abstract: 具备：检测来自具有含有已形成了第1摆动标记和第2摆动标记的伺服区域的光记录媒体的反射光的光探测器(103)；得到反射光的和信号的放大器(104)；对和信号进行采样的采样部分(105)；根据采样值，对第1和第2摆动标记的再生时间附近的和信号的极值进行运算，计算出第1极值和第2极值的第1运算部分(106)；得到与第1和第2极值的差对应的跟踪误差信号的第2运算部分(107)。即便是在用与和信号不同步的时钟进行采样的情况下，也可以得到高精度的跟踪误差信号。
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公开(公告)号：CN1335983A
公开(公告)日：2002-02-13
申请号：CN00802401.4
申请日：2000-09-07
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00745 , G11B7/00 , G11B7/005 , G11B7/007 , G11B7/0938 , G11B11/10597 , G11B20/10 , G11B20/12 , G11B20/1217 , G11B20/14 , G11B2020/1232 , G11B2020/1265 , G11B2020/1274 , G11B2020/1287 , G11B2220/216 , G11B2220/2525
Abstract: 本发明提供一种适合于高密度记录的取样伺服格式的光盘,能够在不降低可重写信道区域的格式效率的情况下,形成控制信道区域,并且,提供一种光盘装置,能够通过简单的电路构成来在短时间内读出控制信息。为此,在光盘中,对于控制信道区域的各段,接在用与时钟标记、摆动标记和地址标记相同的压印预置凹坑来记录控制数据的数据区域之后,设置不存在压印预置凹坑的预定长度的空白。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1703743A
公开(公告)日：2005-11-30
申请号：CN200380101193.X
申请日：2003-10-08
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/085
CPC classification number: G11B7/08517 , G11B7/0053 , G11B7/0953
Abstract: 本发明的课题在于，提供能够稳定地进行跟踪导入的光盘的跟踪控制装置，该装置配备：从光点检测跟踪误差信号和摆动信号的信号检测部；检测光点与轨道的相对的移动速度的速度检测部；在跟踪误差信号的零交叉点附近，当摆动信号振幅值在规定值以下时，判定为光点位置位于槽间盘面的极性判定部；当移动速度在规定范围内，通过极性判定判定为槽间盘面时，从跟踪误差信号的增减方向检测光点对轨道的移动方向的移动方向检测部；以及根据移动速度和移动方向，降低移动速度，导入跟踪的控制部。
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公开(公告)号：CN1497544A
公开(公告)日：2004-05-19
申请号：CN200310102529.6
申请日：2003-10-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0906
Abstract: 一种光盘装置，包括：在所装填的光盘上照射光的光学系；由多个区域接收来自光盘的反射光、生成与各区域的接收光量对应的多个再生信号的光检测器；接收多个再生信号、输出将各再生信号频率成份中根据记号的长度确定的频率成份降低后的多个处理信号的滤波器；检测多个处理信号的相位差的相位差检测部；根据相位差生成表示光盘上的光的照射位置与轨迹之间的位置关系的跟踪误差信号的信号生成部；以及根据所述跟踪误差信号生成控制信号的控制部，根据所述控制信号，在所述光盘上的横截所述轨迹的方向上控制所述光的照射位置。从而，即使光盘上的记号尺寸变小的情况下也可以生成高精度的跟踪误差(TE)信号，实现高精度的跟踪控制。
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公开(公告)号：CN100487440C
公开(公告)日：2009-05-13
申请号：CN03822357.0
申请日：2003-09-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/126 , G01N21/9506 , G11B7/00375
Abstract: 本发明提供了一种即使当激光源的发射功率发生变化时，也能够在光盘上精确探测灰尘和缺陷的缺陷探测装置。该缺陷探测装置设置有用于通过反射光在光盘上探测缺陷等的缺陷探测单元，以及用于将激光源的发射功率调节到最佳值的功率调节单元。即使当激光功率改变时，该缺陷探测单元也能通过对阈值和根据反射光的值进行比较而精确地探测缺陷，其中该阈值根据功率调节单元的调节结果确定。
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公开(公告)号：CN1813292A
公开(公告)日：2006-08-02
申请号：CN200480017863.4
申请日：2004-06-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 上田英司
IPC: G11B7/09
Abstract: 提供一种聚焦控制装置，其包括：传感器单元(101)；误差信号复合单元(102)；运算单元(103)，其具有：误差输入部(104)；干扰相加部，在由误差输入部生成的聚焦误差值组上加上第一干扰值组，然后进行输出；相位补偿部，对干扰相加部的输出至少进行相位补偿运算和对应于放大运算增益的放大运算，生成驱动值组；驱动输出部(106)，根据驱动值组来生成驱动信号；响应检测部，根据聚焦误差值组、第二干扰值组和第三干扰值组，来检测出检测复数振幅值；以及增益改变部，改变放大运算增益；驱动单元(108)；和聚焦致动器(109)；并且，根据检测复数振幅值、预定的复数振幅值和校正复数值，改变增益改变部的放大运算增益，并使校正复数值的相位与第一干扰值组的相位实质上相同。
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公开(公告)号：CN1449560A
公开(公告)日：2003-10-15
申请号：CN01814698.8
申请日：2001-08-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 上田英司
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24085 , G11B7/00 , G11B7/007 , G11B7/00745 , G11B7/08517 , G11B7/0901 , G11B7/0938 , G11B7/0953
Abstract: 提供一种光记录介质及使用该光记录介质的偏心量检测装置，该光记录介质可正确检出照射于光记录介质的光点与光记录介质在径向的相对位移量即偏心量。光记录介质上，多(N)个由第一偏摆痕211与第二偏摆痕212构成的伺服区113和多(N)个进行信息的记录与再现的数据区在环向上交互配置；伺服区由第一偏摆痕与第二偏摆痕之间的环向间隔不同的多个伺服图案区210a～210c在径向上配置而成，多个伺服图案区各自所包含的纹道数相等且小于N/(2×π)。
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