公开(公告)号：CN101165503A

公开(公告)日：2008-04-23

申请号：CN200710102485.5

申请日：2007-04-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 三宅直已 ,  中田义朗

IPC: G01R31/28 ,  G06F11/22

CPC classification number: G01R31/318544 ,  G01R31/318547

Abstract: 本发明利用输出压缩电路(112)，将各扫描链(111)中包含的最后的带扫描功能的触发器电路(12)的输出汇总并进行压缩，利用期待值判定电路(114)对从输出压缩电路(112)输出的来自各扫描链(111)的输出的汇总值、与从外部写入期待值保持电路(113)的期待值进行比较，将根据该比较得到的是否合格的判定结果从期待值判定电路(114)的一个输出端(116)向外部输出，同时与系统复位无关地保持该判定结果。

公开(公告)号：CN101101886A

公开(公告)日：2008-01-09

申请号：CN200710101356.4

申请日：2007-04-19

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 三宅直已 ,  中田义朗

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  G01R31/26 ,  G01R1/073

Abstract: 提出一种半导体检查装置及半导体集成电路的检查方法，通过继电器进行与各半导体集成电路11a相对应的PTC元件22a与电压供给线25a的连接，依次使继电器接通，对电压供给线25a供给高电压，对每个PTC元件22a依次供给高电压，通过这样预先能够断开与DC不合格的半导体集成电路11a连接的PTC元件22a，在该状态下，集中实施老化，从而在集中老化时，能够对于半导体集成电路11a的DC不合格确实使PTC元件22a断开，从而能够提高老化的可靠性。