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发明授权
荧光X射线分析用渣试样的制备方法及取样器失效

公开(公告)号：CN1202410C

公开(公告)日：2005-05-18

申请号：CN99801941.0

申请日：1999-08-20

Applicant: 杰富意钢铁株式会社

Inventor： 山本公 , 槙石规子 , 谷本亘

IPC: G01N1/10 , G01N33/20

CPC classification number: G01N1/125 , G01N23/223 , G01N33/206 , G01N2223/076 , Y10S73/09

Abstract: 本发明提供了一种荧光X射线分析用渣试样的制备方法，其特征在于，将具有平滑外面的金属制中空多角柱浸渍在熔融渣中后立即提出，将该中空多角柱的外面固着的渣与该中空多角柱的接触面作为分析面。本发明还提供了该方法中使用的渣取样器。因此，在铁钢等熔融金属的冶炼工艺中，能够迅速而且正确地对渣进行分析、并能够在所得的分析结果的基础上、对精炼操作在线上给予指示。

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